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等離子體監(jiān)測(cè)控制儀PlasCalc

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更新時(shí)間：2025-08-28 08:34:19瀏覽次數(shù)：170次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

等離子體監(jiān)測(cè)控制儀PlasCalc

詳細(xì)介紹

PlasCalc等離子體監(jiān)測(cè)控制儀，實(shí)現(xiàn)200nm-1100nm波段內(nèi)的等離子體測(cè)量，通過高級(jí)過程控制系統(tǒng)及精密數(shù)據(jù)存取算法，只需3m就可以獲得測(cè)量結(jié)果。

特點(diǎn)

光學(xué)分辨率1.0nm(FWHM)
光譜范圍 200-1100nm
快速的建模及存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)方法

Recipe編輯器

Recipe編輯器有助于簡(jiǎn)單快捷的配置、構(gòu)建及存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)方法。對(duì)一些困難的等離子體工序諸如膜沉積測(cè)量、等離子體蝕刻監(jiān)測(cè)、表面潔度監(jiān)測(cè)、等離子體室控制及異常污染、排放監(jiān)測(cè)等，能夠快速簡(jiǎn)單的構(gòu)建模塊過程控制。

多種工具用于等離子體診斷

隨PlasCalc配置的操作軟件，集成的程式編輯器能夠容易實(shí)現(xiàn)多種數(shù)學(xué)算法功能?？蛇x的波長(zhǎng)發(fā)生器（可以單獨(dú)購(gòu)買）用于類型確認(rèn)，而波長(zhǎng)編輯器可以用于優(yōu)化信噪比。雙窗口界面用于顯示實(shí)際光譜及所有過程控制信息。

PlasCalc 配置說明

光譜范圍:	200-1100 nm
光學(xué)分辨率:	1.0 nm (FWHM)
D/A 轉(zhuǎn)換:	14 bit
數(shù)字I/O:	8 x TTL
模擬輸出:	4 x [0-10V]
接口:	USB 1.1
功耗:	12 VDC @ 1.25 A
電源:	90-240 VAC 50/60 Hz
尺寸:	257 mm x 152 mm x 263 mm
重量:	5 kg