北京中教金源科技有限公司
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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號Keithley2600 2611 2614
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
聯(lián)系方式：馬春雪查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2023-07-10 08:02:10瀏覽次數(shù)：171次
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典型應(yīng)用：
各種器件的I-V功能測試和特征分析，包括：
分立和無源元件
– 兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬 氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極 管、電容、熱敏電阻
– 三抽頭器件——小信號雙極結(jié)型晶體管（BJT）場效應(yīng)晶體管（FET），等等
簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感 器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器
集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI） – 模擬IC
– 射頻集成電路（RFIC）
– 專用集成電路（ASIC）
– 片上系統(tǒng)（SOC）器件
光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器 （VCSEL）、顯示器
圓片級可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、電遷移
太陽能電池
電池
更多…
一、 通用設(shè)置 ：
1.NPLC
2.接線方式（2、4線制）
3.自動調(diào)零
4.濾波
二、單階恒流輸出測量（BiasIMeasureV-Single）
三、單階恒壓輸出測量（BiasVMeasureI-Single）
四、多階恒流輸出測量（BiasIMeasureV-Steps）
五、多階恒壓輸出測量（BiasVMeasureI-Steps）
六、分段電流掃描（SweepIMeasureV-Section）
七、分段電壓掃描（SweepVMeasureI-Section）
八、連續(xù)電流掃描測量（SweepIMeasureV-Continuity）
九、連續(xù)電壓掃描測量（SweepVMeasureI-Continuity）
十、雙通道電流同步掃描（Dual-SweepIMeasureV）
十一、雙通道電壓同步掃描（Dual-SweepVMeasureI）
十二、波形輸出-正弦波（Wave-Sine）
十三、波形輸出-方波（Wave-Square）
十四、電化學(xué)-循環(huán)伏安（Cyclic voltammetry）測量
十五、電化學(xué)-多電流躍階測量（Multi-Current Steps）
十六、電化學(xué)-多電位躍階測量（Multi-Potenital Steps）
十七、太陽能電池IV特性測量（Solar Cell IV）
十八、雙通道恒流恒壓測量（Dual Channel IV）-
十九、直流FET-轉(zhuǎn)移曲線測量（DC-FET-Transfer）
二十、直流FET-輸出曲線測量（DC-FET-Output）
二十一、脈沖FET-轉(zhuǎn)移曲線測量（Pulse-FET-Transfer）
二十二、脈沖FET-輸出曲線測量（Pulse-FET-Output）
二十三、直流FET柵極方波曲線測量（DC- FET- Gate- Square Wave）
二十四、流FET漏極方波曲線測量（DC- FET- Drain- Square Wave）
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