雷達物位計用于低介電常數(shù)的測量
選擇物料性質(zhì)為微DK時,一般用于介電常數(shù)小于1 . 4 ,這時介質(zhì)表面的直接回波很弱,
或不能測量,而通過罐底反射的方法可以測得料位高度這時需要輸入以下參數(shù)中的兩個: 1 .空罐空高,空罐或空容器的空高值 。
2 .真實料高或待測物質(zhì)的介電常數(shù) ，這兩參數(shù)關(guān)聯(lián) ，輸入其中之一即可 。以上參數(shù)
的精度直接影響測量結(jié)果的精度值注 ： “微DK”的選擇要慎重,大多測量是不合適
的,當 “微DK”選擇后,系統(tǒng)根據(jù)回波情況,判斷采用直接回波法或底部反射法來得
到測量結(jié)果 。
雷達物位計的阻尼時間
為抑制因液面波動起伏引起的測量顯示的變化跳動，可設(shè)定適當?shù)娘@示阻尼時間（范圍
在0~999秒），既保證有足夠的測量響應時間，又能使傳感器在延時后反映出變化的測
量值。一般設(shè)定幾秒的時間就足以使測量值穩(wěn)定顯示。
當液晶顯示菜單號為1-3時 ，進入阻尼時間設(shè)置菜單,液晶顯示如下圖：
注：我們公司是物位儀表的生產(chǎn)廠家，雷達物位計是統(tǒng)稱，如果測量液位我們稱呼它為雷達液位計，如果測量固體我們稱它為雷達料位計，我們這款是液體固體通用的所以也可以叫做雷達物位計。如果想了解價格問題請致電我們銷售代表。同時我們公司也是超聲波探傷儀，磁粉探傷儀的主要生產(chǎn)廠家之一。
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