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WITec alpha 300S掃描近場顯微鏡

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更新時間：2026-06-05 13:30:28瀏覽次數(shù)：92次

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微納（香港）科技有限公司

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WITec alpha 300S掃描近場顯微鏡

詳細介紹

簡介
WITec alpha 300S掃描近場光學(xué)顯微鏡是一種純近場光學(xué)顯微鏡，在很多樣品上都可獲得一致的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。
該近場光學(xué)顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。 alpha300S 系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動進針及調(diào)節(jié)等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。
由于近場光學(xué)信號極其微弱，alpha300 S 近場光學(xué)顯微鏡配備高靈敏單光子計數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統(tǒng)兼容，實現(xiàn)近場光譜與成像測量。
產(chǎn)品特性
突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率（橫向約 60 nm)
的 SNOM 探針技術(shù)
在空氣與液體中均可使用
包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式
非破壞性、無需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù)，基本不需要樣品制備
可升級到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像
集成三種技術(shù)到一臺儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM