XJZ 系列正置金相顯微鏡，采用平場(chǎng)消色差光學(xué)系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng)，同時(shí)在落射照明系列中設(shè)計(jì)防反結(jié)構(gòu)，有效防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場(chǎng)襯度更好，提供穩(wěn)定可靠的操作機(jī)構(gòu),使成像更清晰,操作更簡(jiǎn)便，廣泛應(yīng)用于各類(lèi)半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)、材料科學(xué)研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程等學(xué)科領(lǐng)域。顯微鏡鏡體采用全新的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)勻稱(chēng)，實(shí)現(xiàn)鏡體擴(kuò)展積木化，工作臺(tái)、光強(qiáng)與粗微調(diào)的低位操作，提高了使用的舒適性。