深圳賽普思科技有限公司
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更新時間:2018-05-15 15:57:03瀏覽次數(shù):1861次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網二次離子質譜 IMS 7f
1、眾多獨立分析實驗室的主力軍
2、通用磁扇區(qū)二次離子質譜儀:比飛行時間(TOF)SIMS要快,比四級桿
SIMS質量分辨率要高
3、高靈敏度痕量元素分析:ppm-ppb級
4、痕量元素深度剖析:亞微米級橫向分辨率,納米級深度分辨率
二次離子質譜概述
質譜分析-表面微區(qū)元素組成
痕量元素深度剖析
二次離子成像及顯微圖像分布(2&3D)
穩(wěn)定同位素豐度比
放射性顆粒分析
地質定年
二次離子質譜 IMS 7f
1、眾多獨立分析實驗室的主力軍
2、通用磁扇區(qū)二次離子質譜儀:比飛行時間(TOF)SIMS要快,比四級桿
SIMS質量分辨率要高
3、高靈敏度痕量元素分析:ppm-ppb級
4、痕量元素深度剖析:亞微米級橫向分辨率,納米級深度分辨率
5、高靈敏度痕量元素二次離子顯微圖像(2&3D)
6、高分析速度高精度的穩(wěn)定同位素豐度比
7、可增配防輻射裝置,用于放射性樣品分析
8、用于半導體、材料和核能科學、生態(tài)環(huán)境領域、地質學
高分析效率: A high efficiency optical gate is used to eliminate crater edge effects for combining high sputter rate and high dynamic range in the depth profile mode. Full computer control of the instrument allowing unattended analyses with different analysis recipe
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