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高低溫恒溫試驗箱該系列產(chǎn)品配置250L、400L、600L至2000L等容積型號，在設計方面采用環(huán)保制冷劑和高性能制冷系統(tǒng)，主要零部件采用以及*的加濕系統(tǒng)，提供...

高低溫溫度沖擊試驗箱是一種用于測試產(chǎn)品在特殊溫濕度條件下的耐久性和適應性的設備。它能夠快速模擬產(chǎn)品在高溫、低溫、濕熱等環(huán)境中的變化，以評估其性能和可靠性。

冷熱溫度沖擊試驗箱環(huán)境條件對電氣部件、設備和裝置的功能性和可靠性有著重要的影響。為了能在短的時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)潛在的缺陷，通常只靠常規(guī)的溫度檢測是不夠的；樣品必須多次被...

高低溫濕熱環(huán)境試驗箱SEH系列擁有的溫濕度控制系統(tǒng)，用于溫度及濕度可靠性測試。SEH系列擁有廣泛的溫濕度范圍，溫度范圍從-70℃/-40℃到+180℃,濕度范圍...

高低溫交變濕熱試驗箱可程式現(xiàn)代電子器件的生命周期很短，可謂爭分奪秒！使用SETH環(huán)境模擬試驗箱，您可以在產(chǎn)品推向市場之前先確定其是否能耐受寒冷、酷熱、振動和灰塵...

高低溫恒定濕熱試驗箱現(xiàn)代電子器件的生命周期很短，可謂爭分奪秒！使用SETH環(huán)境模擬試驗箱，您可以在產(chǎn)品推向市場之前先確定其是否能耐受寒冷、酷熱、振動和灰塵。采用...

UV紫外線耐候試驗箱在涂料、油墨、塑料、電子電器等行業(yè)都廣泛的應用。只需要幾天或幾周時間就可以再現(xiàn)戶外需要數(shù)月或數(shù)年才能產(chǎn)生的破壞，包括褪色、變色、亮度下降、粉...

箱式UV紫外線老化試驗箱就可以再現(xiàn)戶外需要數(shù)月或數(shù)年才能產(chǎn)生的破壞，包括褪色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強度下降及氧化等老化情況。通過快速、真實...

UV光照老化試驗箱就可以再現(xiàn)戶外需要數(shù)月或數(shù)年才能產(chǎn)生的破壞，包括褪色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強度下降及氧化等老化情況。通過快速、真實地再現(xiàn)...

溫濕度振動篩選試驗箱適合公路、鐵路、航空、水運等運輸過程中產(chǎn)生的機械載荷及其對材料、組件產(chǎn)生影響，同時溫度、濕度等氣候環(huán)境因素的綜合影響也需考慮。、汽車制造等行...

賽思SETH SES系列快速溫度變化濕熱試驗箱執(zhí)行常規(guī)的氣候測試標準，測試空間的尺寸從270升到1300升，溫度從-70 °C到+180 °C，基本上能滿足所有...

高低溫試驗老化箱模擬春夏秋冬—季節(jié)變化，氣候帶變化—您的產(chǎn)品必須能經(jīng)受住生產(chǎn)、運輸、儲存和使用過程的各種溫度變化。SEH系列高低溫濕熱老化試驗箱能幫助您測試溫度...

高低溫交變老化試驗箱模擬春夏秋冬—季節(jié)變化，氣候帶變化—您的產(chǎn)品必須能經(jīng)受住生產(chǎn)、運輸、儲存和使用過程的各種溫度變化。SEH系列高低溫濕熱老化試驗箱能幫助您測試...

高低溫濕熱交變老化試驗箱SEH系列擁有的溫濕度控制系統(tǒng)，用于溫度及濕度可靠性測試。SEH系列擁有廣泛的溫濕度范圍，溫度范圍從-70℃/-40℃到+180℃,濕度...

高低溫濕熱交變氣候試驗箱SEH系列擁有的溫濕度控制系統(tǒng)，用于溫度及濕度可靠性測試。SEH系列擁有廣泛的溫濕度范圍，溫度范圍從-70℃/-40℃到+180℃,濕度...

高低溫濕熱交變試驗箱SEH系列擁有的溫濕度控制系統(tǒng)，用于溫度及濕度可靠性測試。SEH系列擁有廣泛的溫濕度范圍，溫度范圍從-70℃/-40℃到+180℃,濕度范圍...

溫濕度快速循環(huán)試驗箱是指對樣品接觸到的可能導致過早故障的氣候、熱力工機械應力進行篩查的方法，比如：可以發(fā)現(xiàn)電子模塊設計、材料或生產(chǎn)中的缺點。應力篩選ESS技術可...

溫濕度快速交變試驗箱主要用于考察各種工業(yè)制品熱機械性能引起的失效，當構成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結構缺陷劣化...

快速升降溫試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失...

高低溫快速升降溫試驗箱溫度變化率一般在5~20℃/分之間，實現(xiàn)以較快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應用環(huán)境條件，一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試...