微量天平XS 微量天平xp

一、微量天平xs簡介

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的稱量性能，滿足基礎(chǔ)稱量應(yīng)用：在800 mg的精細量程范圍內(nèi)提供1 μg的可讀性。具有同類產(chǎn)品中較好的重復(fù)性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關(guān)鍵，避免不必要的重復(fù)測試，顯著地降低了樣品和時間的浪費。

性能特點

●采用分離的稱量單元和顯示控制單元，避免電子元件散熱對稱量結(jié)果準確性的影響

●優(yōu)化天平適應(yīng)性的稱量參數(shù)設(shè)置，滿足不同稱量環(huán)境要求

●豐富的內(nèi)置稱量應(yīng)用程序：基礎(chǔ)稱量、統(tǒng)計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、動態(tài)稱量

●GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作。

技術(shù)參數(shù)

二、微量天平XP

性能特點

●采用分離的稱量單元和顯示控制單元，避免電子元件散熱對稱量結(jié)果準確性的影響
●天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平，確保稱量結(jié)果始終準確
●GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作
●優(yōu)化天平適應(yīng)性的稱量參數(shù)設(shè)置，滿足不同稱量環(huán)境要求
●可拆卸、清洗的內(nèi)部和外部玻璃防風罩設(shè)計，實現(xiàn)天平的快速清潔
●豐富的內(nèi)置稱量應(yīng)用程序：基礎(chǔ)稱量、統(tǒng)計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、差重稱量
●最小稱量值（Minweigh）功能：可設(shè)置多達3個符合不同質(zhì)量法規(guī)（GMP/GLP/USP）的最小稱量值，滿足相關(guān)質(zhì)量法規(guī)要求，獲得*的稱量幫助。

可選配件
1、ErgoClip Flask micro（選件）：小容量瓶易巧稱量件，安全放置試管、容量瓶等去皮容器，實現(xiàn)微量樣品的直接加樣。
2、MinWeigh Door micro（選件）：最小稱量防風門，通過加樣窗口直接將樣品加入到去皮容器，無需開關(guān)防風罩，有效減少氣流影響，快速獲得穩(wěn)定稱量結(jié)果。
3、一體化去靜電裝置（選件）：有效減少靜電荷對稱量結(jié)果準確性的影響。

技術(shù)參數(shù)