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電容絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

概要：電容器的壽命、故障率受所使用溫度和所加載電壓的影響，這些是對(duì)介質(zhì)的負(fù)載系數(shù)，統(tǒng)稱為加速系數(shù)

詳細(xì)介紹

概要：
電容器的壽命、故障率受所使用溫度和所加載電壓的影響，這些是對(duì)介質(zhì)的負(fù)載系數(shù)，統(tǒng)稱為加速系數(shù)。
本裝置是在溫度環(huán)境下，設(shè)定加載電壓，對(duì)多通道漏電流進(jìn)行高速測(cè)量的裝置。
1) 加載電壓有兩種模式：300V和1000V
2) 1臺(tái)最多可測(cè)試100通道(CH)，1臺(tái)電腦最多可控制4臺(tái)，即可測(cè)試400通道(CH)。
3) 可設(shè)定溫濕度箱的溫度和濕度
4) 系統(tǒng)對(duì)多可搭配4臺(tái)溫濕度箱
5) 擁有溫度補(bǔ)正功能 (溫濕度箱的顯示溫度偏差修正)
6) 用Ethernet I/F和PC連接，實(shí)現(xiàn)高速通信。
系統(tǒng)構(gòu)成
1) PC（控制用電腦：Windows10）
2) SMU板（10CH/板）1個(gè)測(cè)試單元，可配置10塊板。
3) 環(huán)境試驗(yàn)箱（可使用現(xiàn)有設(shè)備或配套購(gòu)置）
4) 測(cè)試單元：最多可配置10塊板
5) 測(cè)量單元的電源：100V～240V（50Hz或60Hz）

l 測(cè)試單元

l 測(cè)試板

板名稱	加載電壓	測(cè)試電流量程	電阻測(cè)試范圍	測(cè)試通道ch數(shù) (每塊板)	試驗(yàn)條件設(shè)定
300V板	1.0 ～ 300V	1.00000mA 10.0000uA 100.000nA	300Ω～300TΩ	10ch	1ch/電源。每塊板可單獨(dú)設(shè)定
1000V板	1.0V ～1000.0V	1.00000mA 10.0000uA 100.000nA	100Ω～1000TΩ	10ch	1ch/電源。每塊板可單獨(dú)設(shè)定

l 規(guī)格

設(shè)備名稱		電容絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)
型號(hào)		CLT
板名稱		300V板獨(dú)立電源板	1000V板獨(dú)立電源板
電阻測(cè)試范圍		300Ω～300TΩ	1000Ω～1000TΩ
測(cè)試通道數(shù)		10ch/板 (最多100ch/測(cè)試單元)	10ch/板 (最多100ch/測(cè)試單元)
連接電纜		１根/式/板(中繼線) 加載測(cè)試電纜×1	2根/式/板(中繼線) 加載電纜×1、測(cè)試電纜×1
電壓加載部	電壓范圍	1.0～300.0V	1.0～1000.0V
	分辨率	0.1V
	精度	±0.3% /FS	±0.3%+0.5V /FS
	輸出功率	400uW /ch	1000uW /ch
	組	1組(10ch/板)
	量程	1量程
	通道數(shù)	10ch
	負(fù)載容量	3300pF/ch
電壓監(jiān)視器	量程	1量程
	范圍	0.0～300.0V	0.0～1000.0V
	分辨率	0.1V
	精度	±0.3% /FS	±0.3%+0.5V /FS
	分配單位	1ch
	周期	20msec/10ch
	通道數(shù)	10ch
電流測(cè)試	范圍	1000μA ～ 10nA 10μA ～100pA 100nA ～ 1pA
	量程	自動(dòng)量程
	最小分辨率	10nA 100pA 1pA
	精度	±0.3% /FS
	通道數(shù)	10ch
	最小采集周期	定期60sec
	測(cè)試周期	20msec/10ch

l 板的種類---獨(dú)立電源版

被測(cè)電容單個(gè)加載電壓的測(cè)試板。優(yōu)點(diǎn)：當(dāng)某個(gè)電容發(fā)生短路，電流超，不會(huì)影響到相鄰的電容，測(cè)試將繼續(xù)。

l 加載電壓
1.1 加載電壓一定
加載電壓和定期收錄加載電壓相同時(shí)（加載到樣品上的電壓一定時(shí)），如下圖所示，只有在最初的加載電壓時(shí)才會(huì)產(chǎn)生等待時(shí)間，在穩(wěn)定時(shí)間結(jié)束前不進(jìn)行測(cè)量。

1.1 定期收錄時(shí)的試驗(yàn)電壓
加載、定期收錄、特定收錄的加載穩(wěn)定時(shí)間的設(shè)定，只有在加載電壓變化時(shí)有效。例如，如下圖所示，在加載電壓和定期收錄的加載電壓值不同的情況下（加載到樣品上的電壓發(fā)生變化的情況下），當(dāng)加載電壓發(fā)生變化時(shí)，在穩(wěn)定時(shí)間結(jié)束之前不進(jìn)行測(cè)量。

Ø 電容故障
樹(shù)珊是指在層疊陶瓷電極之間產(chǎn)生的金屬離子的生長(zhǎng)狀態(tài)下，將基板表面從陰極朝向陽(yáng)極，樹(shù)枝狀金屬成分析出的狀態(tài)。隨著時(shí)間的推移，樹(shù)珊逐漸生長(zhǎng)，電極之間流動(dòng)的電流逐漸增大，最終在陽(yáng)極和陰極之間（+，-電極）接觸，變成短路狀態(tài)，但是短路的地方由于碳化現(xiàn)象絕緣性變大，流動(dòng)的電流非常少。

這種現(xiàn)象被稱為離子遷移，在恒溫恒濕狀態(tài)下，在加載電壓的條件下，記錄最初發(fā)生到形成這
種現(xiàn)象的時(shí)間。
利用樣品的數(shù)量N來(lái)分析該現(xiàn)象，可進(jìn)行壽命預(yù)測(cè)。
因此，為了提高壽命預(yù)測(cè)的精度，需要多取樣品數(shù)N。

Ø 環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)夾具
箱內(nèi)夾具，即可固定，也可取出。