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QE-R 光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) IPCE 量子效率測(cè)試

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北京東方中科集成科技股份有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

QE-R系統(tǒng)可以測(cè)試晶硅電池（Si），非晶硅電池（a-Si），多結(jié)電池（Tandem），染料敏化電池（DSSC），有機(jī)電池（OPV），銅銦鎵硒（CIGS），聚光電池（HCPV）等各種太陽(yáng)能電池。

詳細(xì)介紹

QE-R光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品特色:

特制高效率集光系統(tǒng)設(shè)計(jì)，高達(dá)70 %以上的集光，有效提高訊號(hào)強(qiáng)度，使量測(cè)更快更穩(wěn)定。
配備兩部鎖相放大器，同時(shí)達(dá)到即時(shí)監(jiān)控光強(qiáng)與訊號(hào)量測(cè)，提供較準(zhǔn)確的量測(cè)結(jié)果。
整合電腦自動(dòng)控制訊號(hào)切換器，可降低維修及耗材成本。
采用原裝多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，穩(wěn)定度高及掃描快速。
光源穩(wěn)定，可長(zhǎng)時(shí)間持續(xù)測(cè)試，縮短實(shí)驗(yàn)校正時(shí)間。
數(shù)據(jù)重復(fù)性高達(dá)99.5 %。
適用于量測(cè)各種材料之太陽(yáng)能電池。

※以QE-R量測(cè)三節(jié)電池的EQE

※以QE-R比較不同結(jié)構(gòu)之HIT電池


※以QE-R量測(cè)硅基三節(jié)電池結(jié)構(gòu)的EQE	※QE-R量測(cè)太陽(yáng)能電池的差異性小

QE-R光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 系統(tǒng)說(shuō)明:

QE-R標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)即具備IEC 60904-1、60904-7、60904-8要求之所有功能:

依據(jù)IEC 60904-8規(guī)范設(shè)計(jì)，可校正、量測(cè)光譜響應(yīng) / 量子效率。
采用德國(guó)Fraunhofer ISE同等級(jí)之白光偏光源，光源強(qiáng)度可達(dá)0~3個(gè)太陽(yáng) 光常數(shù)。
具備自動(dòng)電壓偏壓功能，將電池穩(wěn)定的維持在短路條件，在測(cè)試量測(cè)光譜響應(yīng) / 量子效率時(shí)無(wú)須再外接一個(gè)電源供應(yīng)器，省去接線錯(cuò)誤的麻煩。
量測(cè)太陽(yáng)能電池材料能隙，提供客戶重要材料參數(shù)。
光譜不合致度因子(Spectral Mismatch Factor)計(jì)算，提供用戶較重要的修正參數(shù)。
全光譜短路電流密度計(jì)算(auto interlace演算)，可提供較準(zhǔn)確的計(jì)算結(jié)果。
短路電流密度光譜，提供客戶作為材料分析、制程改進(jìn)之關(guān)鍵資訊。
內(nèi)部量子效率計(jì)算功能，客戶可自行輸入反射率，計(jì)算內(nèi)部量子效率。

高效率集光系統(tǒng)，集光效果 > 70 %，較傳統(tǒng)透鏡集光系統(tǒng)高于一個(gè)數(shù)量級(jí)以上的光強(qiáng)度，提供系統(tǒng)的訊噪比與量測(cè)的準(zhǔn)確性。
Czerny-Turner多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，高穩(wěn)定度、掃描快速，光譜范圍可達(dá)200 nm ~2000 nm。
雙光束光路設(shè)計(jì):

同NIM、NIST、PTB國(guó)際一級(jí)校驗(yàn)單位相同光路設(shè)計(jì)。
量測(cè)樣品光電流訊號(hào)同時(shí)監(jiān)控光強(qiáng)變化，確保量測(cè)的高度準(zhǔn)確性。

訊號(hào)多工器，整合電腦自動(dòng)控制訊號(hào)切換器，避免拉拔訊號(hào)線接頭所造成之損壞，降低維修及耗材成本。
優(yōu)異的信噪比，可達(dá)100 dB是整體系統(tǒng)優(yōu)化的結(jié)果，客戶無(wú)須再閱讀一般鎖相放大器厚重的操作手冊(cè)，無(wú)須自行優(yōu)化量測(cè)時(shí)的設(shè)定參數(shù)，避免人為操作的困擾與錯(cuò)誤。
直流量測(cè)模式，客戶無(wú)須再拆裝任何硬體設(shè)備，直接將多功電表，模組化整合到系統(tǒng)內(nèi)部，大幅簡(jiǎn)化硬體空間與拆裝的不便性。
高均勻度參考偵測(cè)器(Reference detector)。

QE-R光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 系?規(guī)格

項(xiàng)目	規(guī)格
儀器大小	600(W) x 600(D) x 610(H)mm集成系統(tǒng),不含作業(yè)計(jì)算機(jī)
重量	主體:80kg
量測(cè)模式	交流量測(cè)模式
量測(cè)波長(zhǎng)	300nm~1100nm ,可擴(kuò)展到2000nm
光班大小	2 x 2 m2或1 x 4 m2(可客制)
整合型光源系統(tǒng)	150WXQ光源系統(tǒng)（或75W Xe燈光源），光源不穩(wěn)定度<0.1%，可提供300nm~2000nm連續(xù)光源高效率橢圓集光鏡系統(tǒng)，具備三軸調(diào)整旋鈕燈源定時(shí)器
單光儀	Czerny-Turner多光柵單光儀 0.1nm波長(zhǎng)解析，掃描范圍 200nm~2000nm
自動(dòng)濾鏡轉(zhuǎn)輪	可裝載6片雜散光濾鏡可手動(dòng)/計(jì)算機(jī)控制，具LED顯示
斬波器	4Hz~500Hz，計(jì)算機(jī)頻率控制
雙鎖相放大器	兩部DSP dual-phase鎖相放大器整合于系統(tǒng)內(nèi)，可同時(shí)擷取雙光束測(cè)試訊號(hào)
校正探測(cè)器	Si偵測(cè)器，10x10m2 有效面積內(nèi)不均勻度<0.5% 偵測(cè)能力200nm~1100nm 附300nm~1100nm光譜回應(yīng)追溯校驗(yàn)報(bào)告
訊號(hào)切換多任務(wù)器	4對(duì)1計(jì)算機(jī)控制訊號(hào)切換多任務(wù)器
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)	PC,LCD,Windows操作系統(tǒng)(需自備計(jì)算機(jī)桌)
軟件	EQE/SR量測(cè)控制軟件光強(qiáng)度校正多圖儲(chǔ)存與編輯能系分析功能自動(dòng)切換參考偵測(cè)器與待測(cè)電池之訊號(hào) 樣品訊號(hào)狀態(tài)顯示內(nèi)部量子效率計(jì)算(客戶輸入反射率) 全光譜短路電路密度計(jì)算(自動(dòng)交錯(cuò)算法) 短路電流密度光譜光譜不含致度因子計(jì)算軟件(自動(dòng)交錯(cuò)算法)
電力需求	可選110V或220V AC單相，<1KVA
操作環(huán)境	溫度:20 ℃~40 ℃，濕度:20%~80%
光強(qiáng)監(jiān)控模塊	300nm~1100nm，雙光束量測(cè)
偏壓電壓	0V~±5V

QE-R光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 選購(gòu)功能

項(xiàng)目	規(guī)格
雙光源系統(tǒng)	Xe + QTH 雙光源系統(tǒng)，含兩組高效率橢圓集光燈系統(tǒng)，計(jì)算機(jī)控制電源切換 700 (W) x 700 (D) x800(H) 集成外箱(選購(gòu)雙光源后的材積)
偏置光源	150 W 白光偏光光源
全自動(dòng)多接面量測(cè)套件	可量測(cè): aa-si; au-si double-junction; aau-si; auu-si; aug-si triple-junction; III-V double-junction and triple-junction; OPV double-junction
內(nèi)部量子效率量測(cè)模塊	2”積分球硅偵測(cè)器，波長(zhǎng)范圍 300 nm~ 1100 nm 積分球切換機(jī)構(gòu) 反射率 / IQE 量測(cè)軟件
穿透率量測(cè)模塊	穿透率量測(cè)偵測(cè)器，si 300 nm ~ 1100 nm 穿透率量測(cè)軟件量測(cè)樣品臺(tái)，樣品大小 max. 20 x 20 x 3mm3?(min. 10 x 10 x 1 mm3)
長(zhǎng)波長(zhǎng)擴(kuò)充套件	Ge 鍺參考偵測(cè)器，900 nm ~ 1800 nm 含校正報(bào)告 InGaAs 參考偵測(cè)器，1000 nm ~ 2000 nm 含校正報(bào)告
UPS	Online UPS > 1.5 KVA
Mapping	XY自動(dòng)平臺(tái)，200 nm x 200 nm行程，2.5 um resolution Mapping量測(cè)軟件任意波長(zhǎng)QE掃描等功能自動(dòng)光強(qiáng)校正 / 樣品量測(cè) / 位置調(diào)整
其他	直流量測(cè)模式、客制化樣品臺(tái)、數(shù)字影像顯微鏡下針監(jiān)控系統(tǒng)、反射率內(nèi)部量子效率量測(cè)、吸收光譜量測(cè)(需選購(gòu)反射率及穿透率套件)、系統(tǒng)使用效益統(tǒng)計(jì)分析、制成改進(jìn)分析功能、供電系統(tǒng)分析、光束引致電流空間掃描3D掃描量測(cè)與分析、多點(diǎn)EQE自動(dòng)量測(cè)