詳細摘要： LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀該設備是按照國家標準GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導衰減法"設計制造。
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2025-09-08 在線留言北京金時速儀器設備經(jīng)營部
北京金時速儀器設備經(jīng)營部
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詳細摘要： LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀該設備是按照國家標準GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導衰減法"設計制造。
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詳細摘要： WJ-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。
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詳細摘要： LT-1B高頻光電導少數(shù)載流子壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。
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詳細摘要： WJ-100C型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。
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詳細摘要： WJ-100C型微波光電導載流子復合壽命測試儀-配工控機是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計...
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詳細摘要： KDY-2成套兩探針電阻率測試儀（測檢磷檢硼棒）KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)...
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詳細摘要： 成套兩探針測試儀（測細硅芯）KDY-2KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會（AST...
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詳細摘要： 成套兩探針測試儀（測鍺錠）KDY-2KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標準及美國材料與試驗協(xié)會（ASTM）*的材料驗收檢測方法“兩探針法"設計。
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詳細摘要： KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會（ASTM）*的材料驗收檢測方法“兩探針法"設計
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詳細摘要： KDY-4四探針電阻率測試儀是嚴格按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
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詳細摘要： KDY-1A便攜式電阻率測試儀（成套）符合半導體材料電阻率的及國家標準測試方法。
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詳細摘要： HP系列四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜…...
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詳細摘要： ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（...
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詳細摘要： SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術,利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游...
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詳細摘要： SDY-4型四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試儀器.
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詳細摘要： 全自動四探針測試系統(tǒng)RTS-1345型可對樣品進行單點、五點、九點、多點、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試；屏蔽測試，*消除光線對樣品測試的影響，保證測量的準...
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詳細摘要： 4-20mA電流環(huán)路信號隔離調(diào)理器 4-20mA環(huán)路隔離*高效信號回路竊電技術，無須外接工作電路兩線制4-20mA信號采集電壓（5-32V）超寬范圍輸入
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詳細摘要： 電子尺 電阻值 位移信號轉(zhuǎn)模擬量電壓電流 0-5KΩ轉(zhuǎn)4-20mA 0-10V電位器|電子尺|角位移傳感器信號轉(zhuǎn)模擬量電壓電流信號隔離變送器，用于電子尺、角度傳...
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詳細摘要： 二線制無源4-20mA回路智能控制4位LCD數(shù)顯儀表|數(shù)字顯示面板二線制無源4-20mA回路智能控制4位數(shù)顯儀表，用于傳感器、變送器工作運行狀態(tài)顯示，工業(yè)設備運...
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詳細摘要： 毫伏級小信號轉(zhuǎn)直流配電型零點增益可調(diào)0-1mV|0-10V隔離放大器毫伏級小信號轉(zhuǎn)直流配電型零點增益可調(diào)隔離放大器，用于無源傳感器隔離配電及信號采集傳輸，稱重傳...
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