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涂層測厚儀leeb220/221/222

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更新時間：2025-09-08 19:03:07瀏覽次數(shù)：350次

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產(chǎn)品簡介

涂層測厚儀leeb220/221/222
采用磁性和電渦流兩種測量方法，可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度的儀器,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度

詳細(xì)介紹

涂層測厚儀leeb220/221/222

主要功能：

采用磁性和電渦流兩種測量方法，可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)的儀器,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

●全中文菜單；

●兩種測量方式；

●兩種工作方式；

●可儲存500個測量值；

●數(shù)據(jù)刪除功能；

●可設(shè)置界限；

●對界限外的測量值能自動報警；

●電源欠壓指示；

●手動和自動兩種關(guān)機方式。

技術(shù)參數(shù)：

測頭類型		leeb220		leeb221		leeb222
測頭類型		F1		N1		F1或N1
工作原理		磁感應(yīng)		電渦流		磁感應(yīng)或電渦流
測量范圍		0～1250μm
低限分辨率		0.1μm
示值誤差	一點校準(zhǔn)	±（3%H+1）
	二點校準(zhǔn)	±[（1~3%)H+1]
測試條件	zui小曲率半徑mm	凸1.5、凹9
	zui小面積直徑mm	Φ7
	基本臨界厚度mm	0.5
工作環(huán)境	溫度	0~40℃
	濕度	20%~90%
電源		AAA型堿性電池1.5V兩節(jié)
外形尺寸		150×55.5×23mm（主機）
重量		F1/165g，N1/205g
標(biāo)準(zhǔn)配置		主機、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AAA型堿性電池
選配		-	-		多種探頭

儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)

探頭

F400

F1/90

F10

N400

CN02

測量原理

磁性

渦流

測量范圍（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

測量精度μm

一點校準(zhǔn)

±[(1～3)%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

±(3%H+1)

二點校準(zhǔn)

±（1～3％H+0.7）

±[(1~3)%H+1]

±[(1～3)%H+10]

±[(1～3)%H+1]

±[(1～3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

zui小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

1.5

僅為平面

zui小面積直徑(mm)

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.3

無限制

測頭選用參考表

覆蓋層基體		有機材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等）		非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
		覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm	覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測面積直徑大于30mm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm	F1型測頭 0～1250μm F10型測頭 0～10μm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm	F1型測頭 0～1250μm F10型測頭 0～10μm
	被測面積直徑小于30mm	F400型測頭0～400μm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm	F400型測頭0～400μm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬	被測面積直徑大于10mm	N1型測頭0～1250μm N400測頭0～400μm		僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm
	被測面積直徑大于10mm	N400測頭0～400μm		N400測頭0～40μm
塑料、印刷線路非金屬基體	被測面積直徑大于7mm	--	--	CN02型測頭10～200μm