產(chǎn)品介紹

RLK655M分體式紅外發(fā)射率測量儀是一款適用于復(fù)雜工況或者特殊環(huán)境下的紅外發(fā)射率測量系統(tǒng)。

系統(tǒng)基于定向半球反射比（DHR）測試原理，實(shí)現(xiàn)單波段（3-35μm）紅外發(fā)射率的測量，采用分體式結(jié)構(gòu)，模塊化設(shè)計(jì)，可適應(yīng)各種不同復(fù)雜環(huán)境（如高溫環(huán)境、真空等），也可用于大幅面樣本的抽樣測量。系統(tǒng)具有測量速度快、精度高及靈活性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

可廣泛應(yīng)用于材料表面紅外發(fā)射率的測試、材料研究、性能評估等，是現(xiàn)代科研的光電測量儀器。

系統(tǒng)構(gòu)成

RLK655M分體式紅外發(fā)射率測量儀，包含紅外發(fā)射率探頭、紅外發(fā)射率控制器、專用線纜、標(biāo)定片、產(chǎn)品。

技術(shù)指標(biāo)

產(chǎn)品連接示意圖

RLK655M分體式紅外發(fā)射率測量儀連接示意圖：

測量使用示意圖

RLK655M分體式紅外發(fā)射率測量儀測量示意圖：