導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀/導(dǎo)熱系數(shù)檢測(cè)儀 型號(hào)：XK-DRL-III
XK-DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀-（熱流法）
一、 概述本儀器主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹(shù)脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（絕緣片材、導(dǎo)熱樹(shù)脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng)）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法）；ASTM D5470-2005（薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）等。
儀器特點(diǎn)：帶自動(dòng)加壓，自動(dòng)測(cè)厚裝置，并連計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測(cè)，提高了測(cè)試精度?？蓹z測(cè)不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數(shù)。廣泛應(yīng)用在高等院校，科研單位，質(zhì)檢部門(mén)和生產(chǎn)廠的材料導(dǎo)熱分析檢測(cè)。
二、 主要參數(shù) 1.試樣大小：≤Φ30mm； 2.試樣厚度：0.02-20mm； 3.熱極控溫范圍：室溫-99.99℃； 4冷極控溫范圍：0-99.0℃； 5.導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.05～45 W/m*k 6.熱阻測(cè)試范圍：0.05～0.000005m2*K/W 7． 壓力測(cè)量范圍：0～1000N可調(diào)； 8． 位移測(cè)量范圍：0～3.00mm； 9． 測(cè)試精度：優(yōu)于3％； 10． 實(shí)驗(yàn)方式：a、試樣不同壓力下熱阻測(cè)試。b、材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。c、接觸熱阻測(cè)試。 11． 計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測(cè)試，并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。
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