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單光子探測(cè)器

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更新時(shí)間：2020-09-04 03:29:24瀏覽次數(shù)：507次

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上海尖豐光電技術(shù)有限公司

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詳細(xì)介紹

單光子計(jì)數(shù)模塊|硅APD探測(cè)模塊SPDSi|Si-APD單光子探測(cè)器

單光子計(jì)數(shù)模塊SPDSi是基于Si-APD的超靈敏光電探測(cè)器。探測(cè)波段覆蓋200 -1060 nm，可工作在線性模式和蓋革模式。蓋革模式下增益超過(guò)60 dB。SPDSi*的高性能主動(dòng)抑制電路，可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)的單光子探測(cè)，并且可加載任意寬度和周期的探測(cè)門。該電路實(shí)現(xiàn)了大于20 dB的雪崩抑制，從而將Si APD的性能發(fā)揮到好的狀態(tài)。在700 nm波段的探測(cè)效率超過(guò)60%，暗計(jì)數(shù)200-2000 cps，死時(shí)間小于50 ns。

SPDSi標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)的有效光敏探測(cè)面積可達(dá)500 um，單光子計(jì)數(shù)信號(hào)在模塊內(nèi)部轉(zhuǎn)化為數(shù)字TTL信號(hào)，并通過(guò)SMA接口送出。高度集成的模塊化設(shè)計(jì)便于OEM應(yīng)用和工業(yè)集成。

APD通過(guò)模塊內(nèi)部制冷工作在-20 ℃的低溫環(huán)境下，以獲得好的的信噪比。制冷模塊由高效的TEC控制。控制精度可達(dá)±0.2 ℃。

技術(shù)特點(diǎn)：

高探測(cè)效率：65%@700 nm
500 um光敏面積
TTL數(shù)字信號(hào)輸出
低暗計(jì)數(shù)
低后脈沖
低時(shí)間抖動(dòng)

應(yīng)用領(lǐng)域：

熒光測(cè)量
激光測(cè)距
量子通信
光譜測(cè)量
光子關(guān)聯(lián)
自適應(yīng)光學(xué)


Fig1. 量子效率	Fig2. Si單光子探測(cè)器

Fig3. Si單光子探測(cè)器結(jié)構(gòu)圖

產(chǎn)品參數(shù)：

參數(shù)規(guī)格參數(shù)	值	單位
供電電壓*1	22 -28	V
供電電流	0.5	A
光譜響應(yīng)范圍	200 ----1060	nm
探測(cè)效率 @200 nm @700 nm @850 nm @1060 nm	2 65 45 3	%
暗計(jì)數(shù)	200 -2000	cps
死時(shí)間	50	ns
后脈沖	3 - 8	%
時(shí)間抖動(dòng)	300 - 500	ps
飽和計(jì)數(shù)率*2	10	Mcps
光敏面積	500	um
APD制冷溫度	-20	℃
工作溫度	-15 - +50	℃
輸出信號(hào)電平	LVTTL
輸出信號(hào)脈寬	530	ns
門脈沖輸入電平 Disable=LVTTL low Enable=LVTTL high	0-0.4 2 -3.3	V

產(chǎn)品說(shuō)明：

1. 不正確的電壓可能損壞模塊，應(yīng)保證接入電源不高于28V，并可提供足夠電流。

2. APD屬于高靈敏光電探測(cè)器件，在雪崩狀態(tài)下應(yīng)控制輸入光信號(hào)強(qiáng)度，過(guò)高的光強(qiáng)可能損壞APD，這種損害可能降低APD的探測(cè)靈敏度，嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)斐啥O管擊穿。

3. 在特殊的應(yīng)用場(chǎng)景下，應(yīng)保證模塊的工作溫度不超過(guò)50 ℃，過(guò)高的溫度可能導(dǎo)致APD工作溫度上升，從而引起暗計(jì)數(shù)水平升高。

4. SPDSi的默認(rèn)死時(shí)間為50ns。死時(shí)間設(shè)定會(huì)影響模塊的大計(jì)數(shù)率，當(dāng)死時(shí)間設(shè)定在50ns時(shí)，大計(jì)數(shù)率為10Mcps，如您的應(yīng)用對(duì)死時(shí)間設(shè)定有特別要求，請(qǐng)?jiān)谟嗁?gòu)時(shí)與我們聯(lián)系。

5. 同樣，輸出信號(hào)的脈寬也會(huì)影響大計(jì)數(shù)率，典型脈寬為30 ns，如您的應(yīng)用對(duì)輸出信號(hào)有特別要求，請(qǐng)?jiān)谟嗁?gòu)時(shí)與我們聯(lián)系。

6. SPDSi支持空間和光纖接口接入。

單光子探測(cè)器選型：

關(guān)鍵詞：光電探測(cè)器標(biāo)準(zhǔn)