詳細描述

MPS30系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的*測量系統(tǒng)。雷達物位計的天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，遇到被測介質(zhì)表面時，由于介電常數(shù)發(fā)生突變，微波脈沖的部分能量被反射回來，并被天線系統(tǒng)接收。

發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與雷達天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。通過測量發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差，并由式(1)即可計算出被測物質(zhì)到儀表法蘭的距離。

D=1/2·ct (1)

其中D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離，c為光（電磁波）在真空的的傳播速度，t為發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差。

然后根據(jù)用戶設(shè)定的空料位位置，由式(2)即可計算出物料高度。

L=E-D (2)

其中E為測量參考面到用戶設(shè)定的空料位位置，D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離，L為物料高度。

電 力：電廠原煤倉、石灰石、石灰粉倉

建 材：水泥的成品庫、均化庫、熟料庫、原料庫、原煤倉等

冶 金：煉鐵廠的原料倉、高爐布料倉

煤焦化：煤塔、筒倉、篩焦、焦炭倉