DUALSCOPE® MP20E-S
DUALSCOPE® MP20E-S使用電磁感應(yīng)和渦流兩種測(cè)試方法。提供了對(duì)于既要在鐵磁材料又要在非鐵材料上測(cè)量，并且不需要文件硬拷貝的應(yīng)用需求的經(jīng)濟(jì)解決方案。儀器能自動(dòng)地識(shí)別被測(cè)材料并選擇適合的測(cè)試方法。
DUALSCOPE® MP20E-S 配備有一個(gè)*的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4" x 1.2"）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡(jiǎn)便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時(shí)間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)，2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。
DUALSCOPE® MP20E-S允許操作者根據(jù)不同的應(yīng)用情況更換大量可供選擇的Fischer智慧型測(cè)量探頭。這種無(wú)約束的互換探頭的能力允許操作者僅僅通過(guò)簡(jiǎn)單的探頭更換就能適應(yīng)各種的測(cè)量情況。
DUALSCOPE® MP20E-S理想的適合于測(cè)量：
非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。
油漆、臘克和合成涂層在在鐵或鋼上。
非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上
鋁的陽(yáng)極氧化層
一步測(cè)量鋼材上鍍鋅再鍍油漆的鍍層系統(tǒng)（雙鍍層）中各自的厚度。
DUALSCOPE® MP40E-S DUALSCOPE® MP40E-S是一款操作簡(jiǎn)便的鍍層厚度測(cè)量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。
存儲(chǔ)容量多達(dá)1,000數(shù)據(jù)組的10,000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)，帶動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)分配能力。100個(gè)測(cè)量應(yīng)用的內(nèi)存可用于存儲(chǔ)校準(zhǔn)和相關(guān)的測(cè)量數(shù)據(jù)。
DUALSCOPE? MP40E-S配備有一個(gè)*的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4" x 1.2"）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡(jiǎn)便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，應(yīng)用程式號(hào)，組號(hào)，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，Cp和 Cpk，產(chǎn)品規(guī)格限制超出，日期，時(shí)間，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)，2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。其它特性還包括RS232雙向通訊的打印機(jī)和PC電腦的連接，聲音提示信號(hào)，電池或交流供電，以及節(jié)電的測(cè)量后4分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)。
使用Fischer的智慧型測(cè)量探頭ED10，MP40會(huì)自動(dòng)檢測(cè)出基體的材料并應(yīng)用合適的測(cè)試方法：渦流法或電磁感應(yīng)法 。能自動(dòng)識(shí)別不同的探頭。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。
DUALSCOPE? MP40采用根據(jù)DIN EN ISO 2360，ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應(yīng)方法。理想的適合于測(cè)量：
非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。
油漆、臘克和合成涂層在在鐵或鋼上。
非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。
鋁的陽(yáng)極氧化層。
一步測(cè)量鋼材上鍍鋅再鍍油漆的鍍層系統(tǒng)（雙鍍層）中各自的厚
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注： 我公司主要生產(chǎn)和銷(xiāo)售 渦流導(dǎo)電儀 ,金屬電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x ,電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x, 數(shù)字金屬電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x ,儀器儀表, 無(wú)損測(cè)量?jī)x, D60K金屬電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x ,涂鍍層測(cè)量?jī)x, 硬度測(cè)量?jī)x, 厚度測(cè)量?jī)x,涂鍍層測(cè)厚儀 ,探頭微硬度測(cè)量?jī)x, 電導(dǎo)率儀 |
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