吉時(shí)利Keithley 6221/2182A 超低電阻配置

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6221/2182A

電壓	電阻	源	PC 接口
1nV – 100V	10n? - 100M?	直流：±10fA – 100mA 交流：4pAp-p – 200mAp-p	RS-232、GPIB、LAN

Keithley 超低電阻配置

適用于超低電阻測(cè)量的兩個(gè)選項(xiàng)

連接時(shí)，2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺(tái)儀器一樣運(yùn)行。2182A/622X 組合是電阻測(cè)量、脈沖式 I-V 測(cè)量和微分電導(dǎo)測(cè)量的理想工具，比其他解決方案具有更顯著的優(yōu)勢(shì)。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術(shù)應(yīng)用，因?yàn)樗鼫y(cè)量電阻時(shí)可以不消耗被測(cè)器件 (DUT) 的太多功率，否則可能會(huì)導(dǎo)致結(jié)果無效，甚至損壞 DUT。

特點(diǎn)	優(yōu)勢(shì)
測(cè)量電阻范圍為 10n? 至 100M?	測(cè)量范圍非常廣，專門用于超低電阻測(cè)量，以檢定高導(dǎo)電性材料、納米材料和超導(dǎo)材料。
同步的電流脈沖源，測(cè)量時(shí)間短至 50μs	限制元器件（如納米器件和納米材料）中的功耗，如果以非常低的功率電平進(jìn)行測(cè)試，這些元器件很容易損壞。
增量模式電流反向、電阻測(cè)量技術(shù)	通過消除熱偏移影響以及將讀數(shù)噪聲降低到 30nV p-p 噪聲（典型值），進(jìn)行精確的超低電阻測(cè)量。可以對(duì)多個(gè)讀數(shù)進(jìn)行平均，以更大程度地降低噪聲。
微分電導(dǎo)測(cè)量	比其他電導(dǎo)測(cè)量技術(shù)的速度快十倍，噪聲更小。無需平均多次掃描的結(jié)果，即可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的測(cè)量。
納伏表和電流源接口無縫配合	進(jìn)行微分電導(dǎo)和電阻測(cè)量時(shí)，將這兩臺(tái)儀器作為一臺(tái)單獨(dú)的儀器來運(yùn)行。
增量、微分電導(dǎo)和脈沖模式產(chǎn)生zui小的電流瞬變	可以檢定可易被電流尖峰損壞的設(shè)備。