當(dāng)我們集中于材料實(shí)驗(yàn)室或科學(xué)研究的任務(wù)時(shí)，

全新的徠卡 DM1750 M 是一臺(tái)設(shè)計(jì)用于迅速，精確分析出結(jié)果的顯微鏡，即使是在粗陋的周圍環(huán)境中。

使用徠卡 DM1750 M ，您會(huì)發(fā)現(xiàn), 顯微技術(shù)是多么簡(jiǎn)單而可靠。它的設(shè)計(jì)包含了一個(gè)優(yōu)秀的光路，即是針對(duì)較大的樣品，也可以通過(guò)明場(chǎng)，傾斜光或者偏光進(jìn)行觀察。 整個(gè)反射光光源采用強(qiáng)力LED照明， w還可以通過(guò)不同照明角度來(lái)觀察，特別適用于檢查微觀劃痕，或獲取樣品高度方面的信息。

Leica DM1750 M

為材料實(shí)驗(yàn)室的常規(guī)質(zhì)檢帶來(lái)高性價(jià)比解決方案

專注于質(zhì)檢實(shí)驗(yàn)室的常規(guī)任務(wù)需要

新型的 Leica DM1750 M 材料顯微鏡不僅能提供快速、精確的

測(cè)量結(jié)果，還能勝任惡劣的工業(yè)環(huán)境。

堅(jiān)固耐用的 DM1750 M 整合了一種高性能光學(xué)系統(tǒng)，能夠檢驗(yàn)

各種類型的樣品。

基于大功率 LED 的反射光照明裝置提供高亮、均勻且色彩自

然的照明，能令測(cè)量結(jié)果更加出眾。此外，照明軸能夠改變照

明角度，創(chuàng)造出一種浮雕效果 (或稱為三維效果)，有助于檢測(cè)

微小劃痕或者獲取相對(duì)高度信息。

為您帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)

Oblique illumination

For a quick surface inspection of your metal samples the oblique illumination is integrated with every Leica DM1750 M. By pressing one of the OBL buttons on the right side illumination keyboard, the oblique illumination is activated and the light arrives with a deviation angle of the beam path onto the sample – fast, reliable, and with topographic information e.g. for the detection of scratches or particles.