GWJD-1000型高溫介電性能

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地北京市

在線詢價收藏產(chǎn)品

聯(lián)系方式：謝偉華查看聯(lián)系方式

更新時間：2025-12-14 08:48:24瀏覽次數(shù)：105次

聯(lián)系我時，請告知來自儀表網(wǎng)

暫無信息

北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：412條

所在地區(qū)：北京北京市

聯(lián)系人：謝偉華（經(jīng)理）

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試

詳細介紹

GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時測試4個樣品）

GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時測試4個樣品）

關(guān)鍵詞：高溫介電測試溫譜儀、高溫介電性能測量系統(tǒng)、高溫介溫譜能系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹：

GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應用于高溫下材料的介電性能測

試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其

他阻抗參數(shù)，廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。

一、產(chǎn)品優(yōu)勢:

1.耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好.

2.四通道測試,可以同時測試1-4個樣品，方便快捷

3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)

二、《符合ASTMD150和 D2149-97國際標準>>

<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法;》

三、產(chǎn)品特點

1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能；

2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能;

3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數(shù)Q，阻抗Z等物理量;以實現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線，時間和電壓變化的曲線；

4、可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求。

主要技術(shù)指標：

測量溫度：室溫-1000°C	升溫斜率：2°C /min
頻率范圍：20-30MHZ	精度：0.05%
測量精度： ±0.1°C	控溫精度：±1°C（PID精準控溫）
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好	測試方法：兩線法或四線法
測試通道數(shù)：1-4通道	一次可測樣品數(shù)：1-4個樣品
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸	測量精度：0.05%
AC電平： 0V 到 1V rms	直流偏壓：0到±40V/100mA
數(shù)據(jù)存儲：EXCEL表格等多種格式	加熱方式：電阻絲加熱
真空度范圍：100 Pa-1大氣壓	電極材料：鉑金
數(shù)據(jù)傳輸：4個USB接口	儀器通訊：USB或GPIB