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LET-2000D系列半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是力鈦科公司開發(fā)出的滿足IEC60747-8/9標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗(yàn)證、器件參數(shù)評(píng)...

力鈦科LETAK功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，集多種測(cè)量功能一體，可以精準(zhǔn)測(cè)量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體...

LET-SP802 半導(dǎo)體圖示儀是一款測(cè)量與分析功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率半導(dǎo)體器件提供靜態(tài)參數(shù)測(cè)量解決方案。SP802 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)...

LET-6000系列即是針對(duì)半導(dǎo)體器件的可靠性要求，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)的可靠性試驗(yàn)系統(tǒng)。本系統(tǒng)可以完成高溫工作壽命HTOL、溫濕度H3TRB、高溫反偏HTRB和高溫柵...

LET-10000集成電路測(cè)試教學(xué)系統(tǒng)部署了企業(yè)真實(shí)項(xiàng)目案例拆分出的實(shí)驗(yàn)、實(shí)訓(xùn)項(xiàng)目資源池，學(xué)生掛載實(shí)驗(yàn)箱可完成從電路原理圖設(shè)計(jì)、混合信號(hào)設(shè)計(jì)、版圖編輯至物理驗(yàn)證...

Keysight B1505A 半導(dǎo)體功率器件分析儀曲線追蹤儀是能夠?qū)?sub-pA 電平至 10 kV 和 1500 A 的高功率器件進(jìn)行表征的綜合解決方案。

4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝電氣特性分析的完整解決方案

可在絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管和其他雙極器件之類的半導(dǎo)體器件上執(zhí)行無損瞬態(tài)測(cè)量

開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。

使用4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和...

進(jìn)口大功率高精度晶體管圖示儀，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體分立器件封裝測(cè)試，制造企業(yè)的半導(dǎo)體器件分立來料檢驗(yàn)，半導(dǎo)體失效分析實(shí)驗(yàn)，高等院校和研究所教學(xué)科研等。

ITC55100C 型號(hào)是一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測(cè)試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個(gè)非常*的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比前代型號(hào)快20倍。

交互式可編程控制；自動(dòng)光標(biāo)測(cè)量；掃描測(cè)量模式

電流-控制設(shè)置為200 mA時(shí)，STEP AMPLITUDE設(shè)置為20x，STEP AMPLITUDE設(shè)置為10x。

ITC75100 是一種增強(qiáng)的未夾式電感負(fù)載 （UIL） 測(cè)試系統(tǒng)，它基于 ITC 行業(yè)的 ITC55 系列測(cè)試儀的成功，增加了額外的測(cè)試和測(cè)量能力。