瑞典XCounter 雙能探測(cè)器

光子計(jì)數(shù) 直接轉(zhuǎn)換 能量分辨

•XCounter 采用CdTe作為直接轉(zhuǎn)換X射線探測(cè)器的轉(zhuǎn)換材料

•直接轉(zhuǎn)換X射線探測(cè)器具有更好的空間分辨率

•可獲得更小細(xì)節(jié)的清晰圖像

•動(dòng)態(tài)范圍大，這對(duì)于獲取整幅圖像非常重要

•光子計(jì)數(shù)，具有更高的靈敏度，可在非常低的劑量下工作

•采用雙能曝光，具有區(qū)分材料的能力

雙能

• XCounter具有能量分辨能力，可以分辨出不同的材料

• 一次X射線獲取，可記錄兩種不同能量的X射線吸收劑量

• 利用不同組織和骨骼的吸收劑量的不同的特點(diǎn)，可以從圖像

中把它們區(qū)分出來

• 使得XCounter在醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域*特色

• *的賣點(diǎn)

*的傳感器

瑞典XCounter 雙能探測(cè)器

產(chǎn)品描述   FX系列
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、雙能采集、光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型*的CdTe-CMOS傳感器平臺(tái)研發(fā)而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
 
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時(shí)間延遲總和（TDS）模式。
 
引進(jìn)反符合技術(shù)的雙能采集功能，是XC-FLITE FX系列產(chǎn)品的*之處，在雙能采集過程中，收集到的光子能量分別設(shè)置為兩個(gè)獨(dú)立的閾值，并分別讀出，兩個(gè)能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料，為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的引進(jìn)，可以通過保證將每一個(gè)光子信號(hào)分布在正確的像素點(diǎn)上，以獲取更高的能量分辨率。  
 
集成
XC-FLITE FX系列，通過GigE接口將XC-FLITE FX系列連接到計(jì)算機(jī)上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有XC-FLITE FX的功能；可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺(tái)
 
應(yīng)用
*小范圍輻照   
*小動(dòng)物成像
*實(shí)驗(yàn)室樣品和標(biāo)本成像    
*工業(yè)檢測(cè)（NDT）
 
特點(diǎn)&優(yōu)勢(shì)
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像
*雙能采集，具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù)，的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時(shí)間延遲總和（TDS）模式
*兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到Windows8
*綁定*的可編程的開發(fā)軟件
 
 
基本參數(shù)

分辨率和DQE曲線 （反符合開CC on和閉CC off）   
 

瑞典XCounter 雙能探測(cè)器 

產(chǎn)品描述：PDT25-DE
緊湊型、直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、雙能采集、光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型*的CdTe-CMOS傳感器平臺(tái)研發(fā)而成，PDT25-DE是一個(gè)小視場(chǎng)探測(cè)器，適用于潛在寬泛的能量范圍。
 
PDT25-DE可以基于幀率成像，也可以采用時(shí)間延遲總和（TDS）模式。
 
引進(jìn)反符合技術(shù)的雙能采集功能，是PDT25-DE*之處，在雙能采集過程中，探測(cè)到的光子能量分別設(shè)置為兩個(gè)獨(dú)立的閾值，并分別讀出，兩個(gè)能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料，為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。采用反符合技術(shù)，可以確保將每一個(gè)光子信號(hào)分布在正確的像素點(diǎn)上，以獲取更高的能量分辨率。
 
集成
通過高速率USB接口將PDT25-DE連接到計(jì)算機(jī)上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺(tái)上。
 
應(yīng)用
*小范圍輻照  
*小動(dòng)物成像 
*實(shí)驗(yàn)室樣品和標(biāo)本成像 
*反向散射成像  
*工業(yè)檢測(cè)（NDT）
 
特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)
*CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像
*雙能采集，具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù)，的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時(shí)間延遲總和（TDS）模式
*兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到Windows8
*綁定*的可編程的開發(fā)軟件

瑞典XCounter 雙能探測(cè)器 

產(chǎn)品描述X 系列
XC-FLITE X1、X2、X3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、自掃描、雙能采集、光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型*的CdTe-CMOS傳感器平臺(tái)研發(fā)而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
 
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時(shí)間延遲總和（TDS）模式，掃描速度zui高90mm/s。
 
引進(jìn)反符合技術(shù)的雙能采集功能，是XC-FLITE X系列產(chǎn)品的*之處，在雙能采集過程中，收集到的光子能量分別設(shè)置為兩個(gè)獨(dú)立的閾值，并分別讀出，兩個(gè)能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料，為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的引進(jìn)，可以通過保證將每一個(gè)光子信號(hào)分布在正確的像素點(diǎn)上，以獲取更高的能量分辨率。  
 
所有精心設(shè)計(jì)的運(yùn)動(dòng)部件需要在XC-FLITE X系列的內(nèi)部自動(dòng)控制，整個(gè)掃描過程是透明可見的。
 
集成
XC-FLITE X系列，通過GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計(jì)算機(jī)上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺(tái)
 
應(yīng)用
*小范圍輻照   
*小動(dòng)物成像
*實(shí)驗(yàn)室樣品和標(biāo)本成像    
*工業(yè)檢測(cè)（NDT）
 
特點(diǎn)&優(yōu)勢(shì)
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像
*自掃描設(shè)計(jì)，透明可見
*雙能采集，具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù)，的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時(shí)間延遲總和（TDS）模式
*掃描速度zui高90mm/s
*兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到Windows8
*綁定*的可編程的開發(fā)軟件