3-036-R001型SF6氣體綜合分析儀

測量SF6氣體的微水，純度和雜質(zhì)。

SF6氣體分析儀的功能：
*離子遷移光譜計（IMS），測量SF6氣體中的微量雜質(zhì)
*百分比測量，確定SF6氣體中的空氣含量
*濕度測量，確定SF6氣體中的微水含量

配置:
--操作方便的旋鈕，雙鍵和顯示屏。
--當(dāng)超過設(shè)定限值時直接指示。
--幾個測量點的記憶（測量點可以任何名字存儲）。
--CD-ROM軟件可向PC機(jī)傳送數(shù)據(jù)并評估測量值。
--2米和4米長的氣體軟管，帶DN8和DN20自封接頭。
--自封連接件。
--殼體帶把手，便于運(yùn)輸和放置。
--2米長電源線。
--串行電纜。
--與分析儀氣體回收系統(tǒng)相連的接口。
--鋁質(zhì)手提箱。

技術(shù)規(guī)格:
IMS（雜質(zhì)）測量范圍： 0-5000 ppm 
測量精度： ±100 ppm 
氣體濕度測量范圍： -45 - +10°C（露點）
氣體濕度測量精度： ±4°C
氣體百分比測量范圍： 0-100 Vol % SF6 
氣體百分比測量精度： ±1%（基于SF6-N2混合氣體）
入口壓力： Pe 0.5-14 bar
流量： 約33 升/小時（三種模式一起）
測量時間： 約5分鐘

功能描述:

SF6氣體分析儀主要用于控制SF6斷路器及SF6組合電器中的SF6氣體質(zhì)量。

該分析儀在使用一個氣體接口情況下可以同時測量SF6氣體中的雜質(zhì)（分解產(chǎn)物總量），SF6-空氣或SF6-N2混合氣體中的SF6氣體純度及SF6氣體的微水含量。

采用IMS模塊，通過測量一個電場中的離子遷移時間來探測SF6氣體中的雜質(zhì)。根據(jù)產(chǎn)生的離子化氣體的遷移性，SF6氣體中的雜質(zhì)總量能顯示出來。

SF6氣體百分比含量的測量的基于對SF6氣體聲速的評估。濕度測量以露點（°C ）來反映SF6氣體中的微水含量，也能以ppm顯示。

所有測量在常壓下進(jìn)行。

通過使用顯示屏可以方便而快速的進(jìn)行測量。一個旋鈕和兩個鍵就可以操作儀器了。一旦有分解產(chǎn)物雜質(zhì)存在，立即發(fā)出聲光報警。

根據(jù)CIGRE標(biāo)準(zhǔn)預(yù)置了報警的解除，操作者可以調(diào)整。

測量值能和存儲，隨供的軟件可以傳送數(shù)據(jù)并在PC機(jī)上進(jìn)行評估。以前的純SF6氣體的標(biāo)準(zhǔn)值能隨每個測量值一起存儲，每天一次，確保測量值與純SF6氣體的直接比較。

分析儀可以連在B151R01型分析儀氣體回收系統(tǒng)上，確保測量過程中沒有SF6氣體排放到大氣中。