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TCR-1200型金屬材料高溫電阻測(cè)試儀是衡量金屬電阻隨溫度變化的一個(gè)物理量，它表示當(dāng)溫度改變1攝氏度時(shí)，電阻值的相對(duì)變化。TCR的單位通常為ppm/℃，其中p...

HTRT-2000型2000℃超高溫導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片，上位機(jī)智能管理分析軟件、真空...

CPT-1000型鐵磁材料高溫居里點(diǎn)測(cè)試儀是一款應(yīng)用于磁性材料在電力、通訊、電子儀器、汽車、計(jì)算機(jī)和信息存儲(chǔ)等領(lǐng)域有著十分廣泛的應(yīng)用，近年來(lái)已成為促進(jìn)高新技術(shù)發(fā)...

HVLT-600型絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35...

HTIM-1000C型高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評(píng)估測(cè)量絕緣材料電學(xué)性能，該系統(tǒng)采用三環(huán)電極法設(shè)...

PRPM-3000高低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、...

HMSP-1400型寬溫域電導(dǎo)率測(cè)試儀采用行業(yè)中使用最為廣泛的連續(xù)改變電導(dǎo)池常數(shù)法(CVCC)，電導(dǎo)池配采用優(yōu)質(zhì)熱壓氮化硼材料，避免了測(cè)試過(guò)程中樣品極化帶來(lái)的誤...

BKTEM-D3A型高溫材料熱電性能測(cè)試儀是一款集成度高的，應(yīng)用對(duì)于熱電材料熱電性質(zhì)參數(shù)賽貝克系數(shù)和電導(dǎo)率進(jìn)行測(cè)量。

GWIM-1000型高溫體積表面電阻率測(cè)試儀是一款滿足GB／T31838.2-2019固體絕緣材料介電和電阻特性第2部分：電阻特性(DC方法)體積電阻和體積電阻...

BKTEM-D3型賽貝克系數(shù)測(cè)試儀/熱電性能測(cè)試儀主要用于測(cè)試兩種不同電導(dǎo)體或半導(dǎo)體的溫度差異而引起兩種物質(zhì)間的電壓差。熱電動(dòng)勢(shì)率，即塞貝克系數(shù)。它表示在給定溫...

HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量材料電阻，電導(dǎo)率的專用設(shè)備，采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的專用的高溫測(cè)試系統(tǒng)，滿...

GW-YDZK03A高溫壓壓電阻抗綜合測(cè)試系統(tǒng)是用于高溫壓電材料測(cè)試，主要是主要用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的高溫阻抗分析與測(cè)試，是對(duì)壓...

GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測(cè)量系統(tǒng)是國(guó)內(nèi)符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新一代高溫壓電阻抗測(cè)試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材...

HTCAS-300型高溫超導(dǎo)材料交流磁化率測(cè)量?jī)x主要用于高溫超導(dǎo)材料交流磁化率及超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度的測(cè)量。本裝置包括密閉的真空室、壓縮制冷機(jī)、真空泵、真空計(jì)、鎖相放大...

HTGSRM-1000高溫氣敏電阻測(cè)量系統(tǒng)主要用于測(cè)量電阻型氣體傳感器材料的氣敏特性，采用兩線或四線電阻測(cè)量原理設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)。該系統(tǒng)采用外部控溫，使得氣敏元件測(cè)試擺...

GWJDN-800型四通道高低溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析，通過(guò)配置不同的測(cè)試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測(cè)試。

HRIM-800型高溫壓力材料電阻率測(cè)試儀是一款用于高溫條件下，施加不同壓力測(cè)量材料電阻率的一款設(shè)備，該設(shè)備可以真空，高溫，壓力三功能條件下對(duì)應(yīng)不同的電阻率曲線...

HTIM-1000高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評(píng)估測(cè)量絕緣材料電學(xué)性能，該系統(tǒng)采用三環(huán)電極法設(shè)計(jì)原...

HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量...

BMJD-400薄膜低溫介電測(cè)量系統(tǒng)低溫介電測(cè)量系統(tǒng)是一款科變溫測(cè)試設(shè)備，應(yīng)用于低溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析，通過(guò)配置不同的測(cè)試設(shè)備，完成不同...