南京環(huán)科試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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閱讀：94發(fā)布時(shí)間：2021-12-4
電子芯片是電子產(chǎn)品的核心，所有的控制和運(yùn)算都集中在芯片中，一般情況下芯片是包含在產(chǎn)品外殼之中，很少會(huì)受到沙塵的影香，但也不排除某些例外的狀況，比如因外殼受損導(dǎo)致的沙塵侵入等，會(huì)影響到電子芯片的正常運(yùn)行。通過沙塵試驗(yàn)箱就能夠模擬各種沙塵侵入的場(chǎng)景，通過對(duì)電子芯片進(jìn)行沙塵試驗(yàn)，可以很好的找到電子芯片的設(shè)計(jì)防護(hù)缺陷。
電子芯片的防塵測(cè)試主要研究不同顆粒大小的沙塵粒對(duì)電子芯片造成的影響。試驗(yàn)的目的一是檢測(cè)電子產(chǎn)品的外殼對(duì)內(nèi)部芯片及其他元件的防護(hù)情況，二是想要了解粉塵侵入對(duì)芯片的影響，以及是否會(huì)發(fā)生短路起火的現(xiàn)象。通過 沙塵試驗(yàn)箱來制造不同溫度、濕度的環(huán)境，并使用不同的沙塵濃度來對(duì)電子芯片進(jìn)行測(cè)試。
在對(duì)電子芯片進(jìn)行防塵測(cè)試時(shí)，一般采用常規(guī)灰塵顆粒大小的粉塵作為試驗(yàn)源。電子芯片要求的防塵等級(jí)一般在IP5或者IP6，旨在*防護(hù)粉塵的進(jìn)入，或者粉塵進(jìn)入以后不影響芯片元件的正常運(yùn)行。一般對(duì)于電子芯片的防塵測(cè)試，都是以IP6等級(jí)的防護(hù)來進(jìn)行的，因?yàn)樯硥m堆積過多，會(huì)造成電子芯片的損害，所以*絕塵才是好的防護(hù)方式。
南京環(huán)科試驗(yàn)設(shè)備有限公司會(huì)定期發(fā)布新品推薦和產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)。公司主要經(jīng)營：中性鹽霧腐蝕/二氧化硫/銅加速試驗(yàn)箱、高低溫沖擊/高低溫交變濕熱/防水/防塵/沙塵/砂塵/淋雨試驗(yàn)箱 、防水試驗(yàn)設(shè)備 、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、 浸沒式/泥鹽水/冰水沖擊試驗(yàn)箱、/風(fēng)源/強(qiáng)化淋雨試驗(yàn)箱 、 滴雨/強(qiáng)化和吹雨淋雨試驗(yàn)箱、外殼防護(hù)IPX1-2/IPX3-4/IPX5-6/IPX7-8/IPX9K 、 高壓噴水/換氣老化/熱空氣老化/臭氧老化/橡膠老化試驗(yàn)箱 、綜合淋雨試驗(yàn)設(shè)備 等產(chǎn)品， 同時(shí)還是一家外殼防護(hù)生產(chǎn)廠家和 冰水沖擊試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家 。
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