詳細(xì)摘要： HCH-2000C+測(cè)厚儀概述:內(nèi)部電路采用數(shù)字電子技術(shù)與微電腦技術(shù)，外部采用金屬機(jī)殼制造而成，儀器體積小、功耗低、功能強(qiáng)、抗摔打、抗振動(dòng)、觸摸按鍵操作更直觀，...
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詳細(xì)摘要： HCH-2000C+測(cè)厚儀概述:內(nèi)部電路采用數(shù)字電子技術(shù)與微電腦技術(shù)，外部采用金屬機(jī)殼制造而成，儀器體積小、功耗低、功能強(qiáng)、抗摔打、抗振動(dòng)、觸摸按鍵操作更直觀，...
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詳細(xì)摘要： HCH-3000C+超聲波測(cè)厚儀是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測(cè)量技術(shù)于一體的、*的無損檢測(cè)儀器，適合測(cè)量金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度值，廣泛應(yīng)...
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詳細(xì)摘要： HCH-3000D超聲波測(cè)厚儀是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測(cè)量技術(shù)于一體的、*的無損檢測(cè)儀器，適合測(cè)量金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度值，廣泛應(yīng)用...
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詳細(xì)摘要： HCH-3000E-E超聲波測(cè)厚儀 HCH-3000E-E超聲波測(cè)厚儀采用了單片機(jī)與CPLD綜合系統(tǒng)的全新技術(shù)，集發(fā)射-回波模式與回波-回波模式于一身的智能型超...
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詳細(xì)摘要： MCW-2000B涂層測(cè)厚儀是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有...
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詳細(xì)摘要： MC-2000A涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：0～1200um，是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕、...
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詳細(xì)摘要： MC-2000D涂鍍層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：10～9000um，它是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按...
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詳細(xì)摘要： MC-2000C涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：0～5000um，是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單...
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詳細(xì)摘要： MCW-3000A涂層測(cè)厚儀，采用渦電流測(cè)量原理,可以方便無損地測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等金屬上的油漆、橡膠、塑料、氧化膜等）。...
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詳細(xì)摘要： MC3000F/N 兩用涂層測(cè)厚儀,配N\F探頭,巧妙的把電渦流測(cè)厚儀和涂鍍層測(cè)厚儀結(jié)合在一起。用戶可以根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)需要，任意選擇鐵磁性測(cè)厚探頭或者渦流測(cè)厚探頭來測(cè)...
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詳細(xì)摘要： HCH-3000F超聲波測(cè)厚儀自動(dòng)識(shí)別標(biāo)配探頭 ,或手動(dòng)設(shè)置探頭。分辨率為0.01毫米，可分組存儲(chǔ)多達(dá)600條讀數(shù)。具有聲速校準(zhǔn)（反測(cè)聲速）或單點(diǎn)校準(zhǔn)功能，集當(dāng)...
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詳細(xì)摘要： SIUI CTS-30B數(shù)字超聲測(cè)厚儀，利用超聲測(cè)量原理，采用微處理技術(shù)和*的制造工藝設(shè)計(jì)，配用陽光下可清晰顯示的大屏幕亮度液晶顯示屏，可以對(duì)金屬及其他多種材料...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2016-07-21 在線留言
詳細(xì)摘要： SIUI CTS-30A數(shù)字超聲測(cè)厚儀，利用超聲測(cè)量原理，采用微處理技術(shù)和*的制造工藝設(shè)計(jì)，配用陽光下可清晰顯示的大屏幕亮度液晶顯示屏，可以對(duì)金屬及其他多種材料...
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