HAST高壓加速老化試驗機詳細規(guī)格：

HAST高壓加速老化試驗機產(chǎn)品用途：

廣泛適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗, 比較傳統(tǒng)之恒溫恒濕設備85/85%R.H.試驗時, 

可以節(jié)省大量時間, 當測試溫度越高, 壓力越大,測試時間縮短越多, 在質量檢驗上大量節(jié)省電力, 人力, 物力, 提升產(chǎn)品競爭力.有多種型號可選擇。

產(chǎn)品特點：

1.采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，降低了使用故障率。

2.獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3.門鎖電控制動結構，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

a.獨特的無結露設計

b抽屜式滑動托盤設計

c.飽和試驗（STD）和不飽和試驗（HUM）兩種試驗模式

d.電子自動門鎖緊結構

e.多種排氣方式

f.可依據(jù)客戶需要，選配不同試驗夾具                                     

g.采用無風扇內部加熱循環(huán)，確保長期使用無集塵產(chǎn)生。

4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

試驗腔杜絕凝露結構設計，試驗腔室干燥設計。                  

5.超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉999小時.

6.水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護.

7.耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

 8.二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置

 9.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

10.常規(guī)配備20組偏壓測試端子，內外3.0快插設計（可增容）

11.USB導出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

1.性能

 1.1 設定溫度:  +100 ℃  ～ +147 ℃( 蒸氣溫度 )

      1.2 濕度范圍:  75~100 % 蒸氣濕度

      1.3濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH

      1.3 使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

      1.4 時間范圍: 0 Hr ～ 999 Hr

      1.5 加壓時間:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分

      1.6 溫度波動均勻度 : ±0.5℃

      1.7 溫度顯示精度：0.1℃

      1.8 壓力波動均勻度 : ±0.1Kg

      1.9 濕度分布均度：±3%RH

2.試驗箱材質：

     2.1 試驗箱尺寸: HAST-40（∮426mm x L500 mm）圓型試驗箱

     2.2 全機外尺寸:  710x  950x 1600 mm ( W * D * H )立式

     2.3 內桶材質: 不銹鋼板材質（SUS# 316  3 mm）

     2.3a內腔干燥板：銅基+雙層鎳≥25um+低電流+磷10%-12%1+有機硅/PTFE封孔

2.4 外桶材質: 不銹鋼板材質或選噴塑

      2.5 保溫材質：巖棉及硬質polyurethane發(fā)泡保溫

          2.6 蒸汽發(fā)室加熱管：鈦管加熱，不生銹。

      2.7 控制系統(tǒng): 

    a.U760-TH溫濕度+壓力（Kpa）.

    b.采用指針顯示壓力表.{可選配電子壓力}

    c.微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度.

    d.手動入水閥（自動補水功能，可不停機連續(xù)試驗）.

    E.試驗數(shù)據(jù)記錄U盤導出，曲線查詢。

2.8機械結構:

       a.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計.

       b.圓幅內襯, 銅基+雙層鎳≥25um+低電流+磷10%-12%1+有機硅/PTFE封孔     

 c.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù) 400Hrs 運轉.

       d.密封設計使門與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式不同,可延長保壓壽命.

     e.臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示.

2.9安全保護：

       a.進口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結構，保證壓力無泄露。

     b.整機配備超壓保護，超溫保護，一鍵泄壓，手動泄壓多重安全保障裝置，保證用戶

       的使用和安全。

     c.反壓門鎖裝置，在試驗室內部有壓力時，試驗箱門無法打開.