冷熱沖擊試驗(yàn)工作箱 溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康?溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)康氖强疾毂辉嚇悠吩谕蝗辉獾綔囟葎×易兓瘯r(shí)之抵抗能力及適應(yīng)能力的試驗(yàn)高低溫沖擊試驗(yàn)主要用于考察剪切和疲勞損傷引起的失效。特別在元器件存在虛弱部位具有開路隱患時(shí),或由于元器件材料和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不當(dāng)具有開裂隱患時(shí),高低溫沖擊試驗(yàn)具有較好的鑒別效果。該實(shí)驗(yàn)一般用溫度沖擊試驗(yàn)箱。

冷熱沖擊試驗(yàn)工作箱 溫度沖擊試驗(yàn)就是為了驗(yàn)證產(chǎn)品在溫度急劇變化的情況下不會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成任何損壞，隨著時(shí)代在不斷的發(fā)展進(jìn)步，不管是出口產(chǎn)品還是內(nèi)銷產(chǎn)品，都需要具備較高品質(zhì)才能夠被市場(chǎng)所接受。所以很多的產(chǎn)品是需要辦理冷熱沖擊試驗(yàn)的，那么冷熱沖擊試驗(yàn)應(yīng)該如何做呢。

起始溫度要求

雖然一般的冷熱沖擊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)冷熱沖擊測(cè)試的起始溫度不予提及或不做硬性規(guī)定，但這卻是測(cè)試進(jìn)行時(shí)必須考慮的問題，因?yàn)樯婕暗綔y(cè)試是結(jié)束在低溫還是高溫狀態(tài)，從而決定了是否需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行烘干，導(dǎo)致延長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間。

冷熱沖擊試驗(yàn)是用高溫和低溫沖擊測(cè)試產(chǎn)品的試驗(yàn)，考核產(chǎn)品對(duì)于周圍空氣溫度的激烈變化的適應(yīng)性。

常見的冷熱沖擊參考標(biāo)準(zhǔn)有國(guó)標(biāo)GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》，IEC60068-2-14 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范.第2部分 試驗(yàn)N 溫度變化)。

國(guó)標(biāo)GB 2423里高溫試驗(yàn)的將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度。當(dāng)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。對(duì)于試驗(yàn)時(shí)需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品（即使它們不屬于散熱試驗(yàn)樣品），應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后通電，根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測(cè)。這種情況下，可能還需要一段時(shí)間達(dá)到溫度穩(wěn)定，然后試驗(yàn)樣品在該高溫條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。

冷熱沖擊試驗(yàn)各類標(biāo)準(zhǔn)中的冷熱沖擊試驗(yàn)均來源于IEC 60068-2-14 試驗(yàn)方法N：溫度變化中的Na 。在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化試驗(yàn)。它的定義在特定時(shí)間內(nèi)進(jìn)行快速溫度變化，轉(zhuǎn)換時(shí)間一般設(shè)定為手動(dòng)2～3 分鐘，自動(dòng)少于30 秒，小試件則少于10 秒。常用術(shù)語中的溫度沖擊試驗(yàn)也屬于冷熱沖擊試驗(yàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)有幾個(gè)重要參數(shù)需要考慮：循環(huán)數(shù)、溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間、溫度保持時(shí)間、溫度極限值（因此項(xiàng)試驗(yàn)為存儲(chǔ)類試驗(yàn)，故其極限值為存儲(chǔ)極限溫度值）。參考參數(shù)設(shè)置如表3所示，具體的循環(huán)數(shù)來源為加速模型計(jì)算出來的一個(gè)經(jīng)驗(yàn)數(shù)值，暫不在此文詳述。

在GBJ150實(shí)施指南中提出，為了消除這一影響避免長(zhǎng)時(shí)間恢復(fù)延長(zhǎng)測(cè)試實(shí)施時(shí)間，可將樣品在50的高溫箱中恢復(fù)，待凝露干后再在常溫中達(dá)到溫度穩(wěn)定。實(shí)施指南中提出可改變起始沖擊溫度，從低溫開始測(cè)試，以使測(cè)試結(jié)果在高溫避免產(chǎn)品出冷熱沖擊測(cè)試箱產(chǎn)生凝露。兩種測(cè)試方法卻使受試樣品經(jīng)受六次溫度（三次高溫，三次低溫）作用及五次溫度沖擊過程，只是不同沖擊方向的次數(shù)有所不同，這兩種測(cè)試可能達(dá)到的測(cè)試效果是基本相同的，但后一種測(cè)試方法無需加烘干時(shí)間，縮短了冷熱沖擊測(cè)試時(shí)間。

1、GJB 150-86《設(shè)備環(huán)境測(cè)試方法》

2、GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境測(cè)試規(guī)程》

3、MIL－STD－810F《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試》

測(cè)試時(shí)間要求

1、GJB150.5規(guī)定了下限1h，即溫度穩(wěn)定時(shí)間小于1h，必有要1h；若大于1h，則用該大于1h的時(shí)間；

2、GB2423.22中給出10min到3h的5個(gè)時(shí)間等級(jí)，同使用表根據(jù)冷熱沖擊測(cè)試箱測(cè)得的產(chǎn)品溫度穩(wěn)定時(shí)間，采用與其最相近的時(shí)間或可選時(shí)間等級(jí)，直接采用與其最相近的時(shí)間作為保持時(shí)間；