非飽和高壓加速老化試驗(yàn)設(shè)備又稱 HAST 高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱，是電子元器件可靠性檢測專用設(shè)備，通過高溫、高壓、非飽和濕熱多應(yīng)力耦合環(huán)境，快速加速產(chǎn)品濕熱老化，廣泛用于半導(dǎo)體 IC、車載電子、PCB 電路板、連接器、光伏組件等產(chǎn)品的耐濕壽命驗(yàn)證，是產(chǎn)品研發(fā)、型式檢驗(yàn)與出口認(rèn)證的關(guān)鍵試驗(yàn)裝置。

非飽和高壓加速老化試驗(yàn)設(shè)備采用密閉高壓腔體結(jié)構(gòu)，內(nèi)膽選用耐腐蝕不銹鋼材質(zhì)，搭配 PID 閉環(huán)控制系統(tǒng)，可獨(dú)立精準(zhǔn)調(diào)控溫度、濕度與壓力，維持腔體內(nèi)部非飽和蒸汽狀態(tài)，試樣表面無冷凝水滴，避免液態(tài)水帶來的假性失效。設(shè)備可施加偏置電壓，模擬器件帶電工作環(huán)境，有效激發(fā)水汽滲透、金屬腐蝕、離子遷移、封裝分層等潛在缺陷，將數(shù)年自然老化過程壓縮至數(shù)十小時(shí)完成，大幅縮短研發(fā)驗(yàn)證周期。

整機(jī)配置多重安全保護(hù)，包含壓力安全閥、超溫報(bào)警、缺水保護(hù)、門互鎖及緊急停機(jī)裝置，保障壓力容器運(yùn)行安全。觸控式操作界面支持程式編輯，可預(yù)設(shè)多段試驗(yàn)條件，自動記錄溫濕度、壓力數(shù)據(jù)，試驗(yàn)過程穩(wěn)定，數(shù)據(jù)重復(fù)性好。

備可執(zhí)行 JESD22-A110、GB/T 2423.40、IEC60068-2-66 等標(biāo)準(zhǔn)。試驗(yàn)后檢測樣品絕緣性能、封裝完整性與電氣功能，評估材料與封裝結(jié)構(gòu)抵御濕熱侵蝕的能力，提前排查產(chǎn)品長期使用隱患，優(yōu)化產(chǎn)品封裝工藝，降低終端市場失效風(fēng)險(xiǎn)，為產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)與質(zhì)量管控提供科學(xué)有效的試驗(yàn)依據(jù)。