*二手dage XD7500 x-ray檢測儀,*

技術(shù)參數(shù)：

主要特點：

DAGE7500 VR X光無損檢測系統(tǒng) 主要特征： 

• zui小分辨率：950納米(0.95 微米)； 

• 影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度（共140度），旋轉(zhuǎn)360度； 

• 圖像采集:1.3M萬數(shù)字CCD； 

• zui大檢測區(qū)域面積: 18”x 16”(458 x 407 mm)； 

• zui大樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)； 

• 系統(tǒng)zui大放大倍數(shù): 至5650X； 

• 顯示器: 20.1"(DVI interface)數(shù)字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)； 

• 安全性: 在機器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 

X光檢查在PCB及半導(dǎo)體行業(yè)中被認(rèn)為是zui關(guān)鍵的測試步驟。在當(dāng)今的封裝設(shè)計中發(fā)現(xiàn)缺陷是非常重要的，因此，X光系統(tǒng)必須在不同的觀察角度能夠提供高分辨率、高放大倍率和高對比度的圖像。 
在評定一臺X-Ray時，檢測速度的快慢和用戶友界面是否友好都是*的。 
DAGE XD7600 XiDAT系列X光機安裝的軟件版本為具有圖像引導(dǎo)功能的DAGE11。該軟件使用方便，具有進(jìn)行亞微米級的觀察、自動檢測、動態(tài)的波動分離、圖像抓拍、zui友好的用戶界面等優(yōu)勢。 
該設(shè)備是標(biāo)準(zhǔn)的配置，能夠提供實時的高質(zhì)量數(shù)字式的X光圖像，圖象的分辨率和灰階都有很大程度的增強，zui大可達(dá)70度的傾角觀察。

英國DAGE公司X光測試儀設(shè)計滿足PCB和半導(dǎo)體工業(yè)的增長需求，用戶可以輕松獲取高質(zhì)量、高放大倍數(shù)和高分辨率下的被測物任何方位的圖像。由于采用開管（Open Tube）技術(shù)，在放大倍數(shù)方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了采用閉管（Closed Tube）技術(shù)的X光檢測儀達(dá)到亞微米級，能滿足客戶更高精度的需求。

觀察右下方的照片，你可以對該儀器在PCB和半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用有一個大概的了解。在對物體需要進(jìn)行幾百甚至幾千倍的放大觀察時，
你一定需要該機器的協(xié)助！在制造業(yè)向生產(chǎn)更精巧，更密集的方向發(fā)展時，該儀器就顯得*，進(jìn)一步的具體應(yīng)用，請與我們聯(lián)絡(luò)！

Dage x-ray檢測機

主要特點：



DAGE7500 VR X光無損檢測系統(tǒng)
主要特征：



•zui小分辨率：950納米(0.95微米)；



•影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度（共140度），旋轉(zhuǎn)360度；



•圖像采集:1.3M萬數(shù)字CCD；



•zui大檢測區(qū)域面積: 18”x 16”(458 x 407 mm)；



•zui大樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；



•系統(tǒng)zui大放大倍數(shù):至5650X；



•顯示器: 20.1"(DVI interface)數(shù)字彩色平板LCD,(1600 x
1200PIXELS)；



•安全性:在機器表面任何地方X光泄露率< 1 m Sv/hr等等



有dage 7500;dage 7600等，dage x光檢測儀



X光檢查在PCB及半導(dǎo)體行業(yè)中被認(rèn)為是zui關(guān)鍵的測試步驟。在當(dāng)今的封裝設(shè)計中發(fā)現(xiàn)缺陷是非常重要的，因此，X光系統(tǒng)必須在不同的觀察角度能夠提供高分辨率、高放大倍率和高對比度的圖像。

在評定一臺X-Ray時，檢測速度的快慢和用戶友界面是否友好都是*的。

DAGE XD7600 XiDAT系列X光機安裝的軟件版本為具有圖像引導(dǎo)功能的DAGE11。該軟件使用方便，具有進(jìn)行亞微米級的觀察、自動檢測、動態(tài)的波動分離、圖像抓拍、zui友好的用戶界面等優(yōu)勢。

該x-ray檢測儀是標(biāo)準(zhǔn)的配置，能夠提供實時的高質(zhì)量數(shù)字式的X光圖像，圖象的分辨率和灰階都有很大程度的增強，zui大可達(dá)70度的傾角觀察。