擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)保養(yǎng)程序

A、應(yīng)保證機(jī)臺(tái)表面干凈、清潔，尤其是電鍍部分應(yīng)經(jīng)常經(jīng)用WD-40噴灑表面，以防生銹；

B、經(jīng)常檢查沖擊端固定螺絲有無(wú)松動(dòng)，如松動(dòng)下墜可能導(dǎo)致試驗(yàn)機(jī)臺(tái)損壞；

C、經(jīng)常檢視機(jī)臺(tái)水平儀有無(wú)水平，如不水平將影響測(cè)試結(jié)果。

擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)服務(wù)內(nèi)容：

1. 免費(fèi)安裝、調(diào)試，并培訓(xùn)2～5名操作人員，達(dá)到熟練操作水平；

2. 免費(fèi)保修一年，終身維修。一年后如需更換零配件只核收成本費(fèi)，無(wú)其它費(fèi)用產(chǎn)生；

3. 開通服務(wù)專線，24小時(shí)內(nèi)回復(fù)用戶，72小時(shí)內(nèi)上門調(diào)試維修；

4. 定期上門巡回服務(wù)，檢查設(shè)備運(yùn)行狀況，對(duì)設(shè)備進(jìn)行維護(hù)和保養(yǎng)；

5. 長(zhǎng)期為用戶免費(fèi)提供產(chǎn)品使用說(shuō)明書、維護(hù)咨詢、技術(shù)咨詢等服務(wù)；

6. 針對(duì)使用電腦軟件控制的儀器，可定期免費(fèi)提供軟件升級(jí)和。

如欲了解軒軼創(chuàng)析公司更多產(chǎn)品，請(qǐng)登錄公司或致電。

超高速高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB電路板IC、光通訊（如收發(fā)器transceiver高低溫測(cè)試、SFP光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

工作試驗(yàn)方法

1、試驗(yàn)機(jī)輸出氣流罩將被測(cè)試品罩住，形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔，試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流，使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn)；

2、可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件，將其隔離出來(lái)單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比，溫變變化沖擊速率更快。

工作模式

A）2路主空氣管輸出，由分布頭分為8路供氣，帶2套1拖8系統(tǒng)

B)2種檢測(cè)模式AirMode和DUTMode

測(cè)試和循環(huán)于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫）

主要技術(shù)參數(shù)

設(shè)備型號(hào)：HE-ATS750

樣品盒尺寸：直徑140mm×高50mm

制冷方式：采用風(fēng)冷式HFC環(huán)保制冷劑復(fù)疊系統(tǒng)，溫度可達(dá)-70℃

噪音：≤65dB（A聲級(jí)）

條件：風(fēng)冷式環(huán)境溫度在+23℃時(shí)

溫度控制范圍：-70℃～+250℃

沖擊溫度范圍：-60℃～+200℃

溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10秒

溫度偏差：測(cè)試品恒定在-40℃時(shí),溫度偏差為±1℃

沖擊氣流量：1.9~8.5L/s(分為8路，每路0.23~1.06L/s）連續(xù)氣流

溫變速率降：RT+10℃降至-40℃≤60s

試品表面溫度：RT+10℃降至-40℃約1分鐘試品表面溫度達(dá)到，氣體溫度與樣品溫度可選擇測(cè)控

控制系統(tǒng)：采用進(jìn)口智能PLC觸摸屏控制，7寸彩色屏

試品：帶2套1拖8系統(tǒng)，金屬封裝PCB板模塊8片；

前端空氣經(jīng)干燥過(guò)濾器處理,產(chǎn)品測(cè)試區(qū)及附近無(wú)明顯結(jié)露現(xiàn)象。設(shè)備可以連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)不需進(jìn)行除霜。

外形尺寸：寬790×高1600×深1080（mm）以實(shí)物為準(zhǔn)

使用電源：AC三廂五線380V50/60HZ

標(biāo)準(zhǔn)儀據(jù)

GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.22-2012試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

GJB/150.3-2009高溫試驗(yàn)

GJB/150.4-2009低溫試驗(yàn)

GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗(yàn)