單色光掃描系統(tǒng)和固定式多色光勞厄分析系統(tǒng)，用于單晶材料、硅圓、晶錠、渦輪葉片和太陽能光板等的定向分析和檢測，可集成到產(chǎn)線和質(zhì)量控制流程。

·        XRD Galaxy SCL
  采用固定式勞厄分析方法，用于確定硅圓、晶錠、渦輪葉片的取向，可進行點分析或者表面掃描檢測，通過顯微鏡鏡頭和激光進行樣品調(diào)整

·        XRD Galaxy SCD
  采用衍射的方法掃描分析樣品的取向，可用于確定硅圓、晶錠、渦輪葉片的取向，可進行點分析或者表面掃描檢測，通過顯微鏡鏡頭和激光進行樣品調(diào)整

德國SEIFERT Analytical X-ray可根據(jù)用戶的應用和要求，提供定制化的系統(tǒng)配置。

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