詳細(xì)摘要： 日本Mitaka（三鷹光器）三維形貌測量儀NH系列，使用激光自動對焦技術(shù)在半導(dǎo)體工業(yè)和超精密加工領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。通過光學(xué)非接觸式的測量，可以全自動并高精度的測...
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北京歐屹科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 日本Mitaka（三鷹光器）三維形貌測量儀NH系列，使用激光自動對焦技術(shù)在半導(dǎo)體工業(yè)和超精密加工領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。通過光學(xué)非接觸式的測量，可以全自動并高精度的測...
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詳細(xì)摘要： 非接觸式激光點自動對焦技術(shù)結(jié)合五軸旋轉(zhuǎn)載臺，可進(jìn)行多種復(fù)雜工件的圓周測量。
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詳細(xì)摘要： WPA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶體技術(shù)，開發(fā)的一款適用性高的應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備，可測量相位差（光程差）高達(dá)3500nm，適合注塑成...
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詳細(xì)摘要： PA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶體技術(shù)，針對玻璃、SIC晶圓、藍(lán)寶石等低應(yīng)力雙折射的測量系統(tǒng)，數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布...
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詳細(xì)摘要： 近紅外（NIR）應(yīng)力雙折射系統(tǒng)，可針對測量紅外材料的應(yīng)力雙折射信息及內(nèi)應(yīng)力分布，分別有PA-300-NIR與WPA-200-NIR,適用于大多數(shù)紅外材料測量。
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詳細(xì)摘要： KAMkIRI系列是日本PHOTRON公司采用偏光影像傳感器的高速相機(jī)開發(fā)的在線應(yīng)力雙折測量系統(tǒng)，可在裝配在產(chǎn)線上，實時測量應(yīng)力雙折射信息。
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詳細(xì)摘要： 日本Lasertec公司提供的ECCS B310/B320型電化學(xué)反應(yīng)可視化共焦系統(tǒng)，可以實現(xiàn)充放電狀態(tài)下，鋰電池的電化學(xué)反應(yīng)進(jìn)程分布的觀察、定量化。本系統(tǒng)使用...
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詳細(xì)摘要： Lasertec自動缺陷檢測系統(tǒng) OPTELICS AI2自動缺陷檢測、高倍率缺陷觀察、3D形狀測量，多步解析，一臺實現(xiàn)。
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詳細(xì)摘要： 日本Lasertec公司推出了Optelics Hybrid 混合共焦顯微鏡,將激光和白光源組合在一體,用于多功能高性能共聚顯微鏡.兩組共焦光學(xué)器件與附加器件相...
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詳細(xì)摘要： 日本Photonic Lattice, Inc.基于自研的光子晶體技術(shù)開發(fā)的一款高速膜厚測量儀ME-210，與傳統(tǒng)點測的橢偏儀不同，ME-210通過點掃描的方式...
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詳細(xì)摘要： 非接觸式內(nèi)周面測量儀，利用近紅外光學(xué)干涉實現(xiàn)內(nèi)周面可視化，設(shè)備結(jié)合了小的 φ0.9mm 電機(jī)和光學(xué)成像探頭，并配備了傾斜校正算法。儀器不僅可以觀察和測量孔加工零...
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