1.本儀器是晶閘管斷態(tài)電壓臨界上升率dv/dt參數(shù)的測試設備。適用于交流固態(tài)繼電器、晶閘管、雙向可控硅以及可控硅型光電耦合器的dv/dt參數(shù)測試。
2.本測試儀采用單片機控制,對測試條件及測試數(shù)據(jù)進行運算;使得測試結(jié)果讀出。
3.單片機的數(shù)據(jù)處理功能,降低了電路分布參數(shù)對測量結(jié)果的影響。
4.由于該儀器的時間常數(shù)調(diào)整范圍大、檔位密集,對測試電壓、時間常數(shù)和測量結(jié)果進行數(shù)字顯示。
5.其檢測原理是按JB/T7626的方法。是固態(tài)繼電器、電力半導體晶閘管生產(chǎn)廠家和使用單位常用的檢測設備。
規(guī)格參數(shù):
測試輸出電壓:2kV±5%
電壓測量誤差:±(讀數(shù)×2%+1)V
時間常數(shù)調(diào)整范圍:0.25-28μS
斷態(tài)電壓臨界上升率dv/dt測量范圍:0-4000V/μS
工作電源:AC 220V±10% 50Hz
工作溫度:0-40℃
功率范圍:小于150VA
晶閘管dv|dt測試儀