紫外可見分光光度計介質膜干涉濾光片光譜為單峰波形適合檢定手動調節(jié)波長的分光光度計,鐠釹濾波片、氧化鈥濾波片光譜均為多峰波形適合檢定自動掃描波長的分光光度計。在實際工作中、可見分光光度計都是手動調節(jié)波長,且等級均為II、IV,紫外一可見分光光度計手動調節(jié)波長、自動掃描波長兩種方式都存在。因此、檢定可見分光光度計時,使用介質膜干涉濾光片,使用鐠釹濾波片可操作性較差。上海棱光技術有限公司介紹檢定手動調節(jié)波長紫外-可見分光光度計時,可使用介質膜干涉濾光片檢定B段,氧化鈥濾波片檢定A段,不考慮操作性差這一因素,也可以只使用氧化鈥濾波片檢定A段、B段。檢定自動掃描波長紫外可見分光光度計時,同時使用氧化鈥濾波片、鐠釹濾波片可測得240~820nm范圍內的峰值點,彌補了單獨使用氧化鈥濾波片只能測得240~640nm范圍的峰值點,所測波長范圃較短的缺陷,比較符合JG178-2007中要求每隔100nm至少選擇一個波長檢定點的要求。
