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德國EPK(Elektrophysik)MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀

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更新時間：2025-07-08 08:25:23瀏覽次數(shù)：187次

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德國EPK(Elektrophysik) 涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

詳細介紹

產(chǎn)品介紹

德國EPK(Elektrophysik) 涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

- MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機

- 可使用一片或二片標準箔校準

型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù))	1	1	10	99
每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設寬容度極限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)	-	1	500	500
數(shù)據(jù)總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值	-	-	√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間	-	√	√	√
其他功能
透過涂層進行校準(CTC)	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校準	√	√	√	√
利用計算機進行基礎校準	√	√	√	√
補償一個常數(shù)(Offset)	-	-	√	√
外設的讀值傳輸存儲功能	-	√	√	√
保護并鎖定校準設置	√	√	√	√
更換電池是存儲數(shù)值	√	√	√	√
設置極限值	-	-	√	√
公英制轉換	√	√	√	√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別大小值	-	-	√	√>
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)	-	-	√	√>
浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送	√	√	√	√
組內(nèi)單值延遲顯示	-	√	√	√
連續(xù)測量模式中顯示小值	√	√	√

可選探頭參數(shù)(探頭圖示)

- 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素
- F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
- N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
- FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭	量程	低端分辨率	誤差	小曲率半徑(凸/凹)	小測量區(qū)域直徑	小基體厚度	探頭尺寸
F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x170mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x170mm
N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm
FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F：0.5mm N：50μm	φ21x89mm
FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

探頭圖示

	FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)

	FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度

	F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(0.1μm)

	F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭量程低端分辨率很高(0.1μm

	F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭可用于較厚的覆層

	F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭尤其適合于在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高(0.1μm)

	F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

	F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

	F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

	N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)

	N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

	N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)

	N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高(0.1μm)

	N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

	N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

	N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

	CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板