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HP8494G衰減器 精密電鍍片簧接觸將衰減單元(蘭寶石和氧化鋁襯底上的小型氮化鉭薄膜T型衰減器)從信號(hào)路徑中移出。的過程控制和材料選擇保證有****的壽命和接...
HP8494A衰減器 精密電鍍片簧接觸將衰減單元(蘭寶石和氧化鋁襯底上的小型氮化鉭薄膜T型衰減器)從信號(hào)路徑中移出。的過程控制和材料選擇保證有****的壽命和接...
HP8495G衰減器精密電鍍片簧接觸將衰減單元(蘭寶石和氧化鋁襯底上的小型氮化鉭薄膜T型衰減器)從信號(hào)路徑中移出。的過程控制和材料選擇保證有****的壽命和接觸...
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HP8496A衰減器 精密電鍍片簧接觸將衰減單元(蘭寶石和氧化鋁襯底上的小型氮化鉭薄膜T型衰減器)從信號(hào)路徑中移出。的過程控制和材料選擇保證有****的壽命和接...
精密電鍍片簧接觸將衰減單元(蘭寶石和氧化鋁襯底上的小型氮化鉭薄膜T型衰減器)從信號(hào)路徑中移出。的過程控制和材料選擇保證有****的壽命和接觸重復(fù)性。
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HP8496B衰減器 精密電鍍片簧接觸將衰減單元(蘭寶石和氧化鋁襯底上的小型氮化鉭薄膜T型衰減器)從信號(hào)路徑中移出。的過程控制和材料選擇保證有****的壽命和接...
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HP8495D衰減器 精密電鍍片簧接觸將衰減單元(蘭寶石和氧化鋁襯底上的小型氮化鉭薄膜T型衰減器)從信號(hào)路徑中移出。的過程控制和材料選擇保證有****的壽命和接...
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HP8497K衰減器 精密電鍍片簧接觸將衰減單元(蘭寶石和氧化鋁襯底上的小型氮化鉭薄膜T型衰減器)從信號(hào)路徑中移出。的過程控制和材料選擇保證有****的壽命和接...
測(cè)試腳為4對(duì)端口設(shè)計(jì),采用BNC連接板,可連接用戶自制固件。
HP16048B Test Lead 。 Test Lead (SMC Connector, with SMC Connector Board)
Agilent 16048C 夾具頻率范圍:直流100kHz,直流電壓 ±35Vdc
附帶 BNC 陰頭連接器板,用于連接用戶組裝的測(cè)試夾具。
專為高達(dá) 13 MHz 的軸向/徑向引線式器件阻抗測(cè)量而設(shè)計(jì)。 16047A 采用了 Kelvin 觸頭,可用于廣泛的阻抗測(cè)量。 觸頭**可根據(jù)器件形狀進(jìn)行變化...
具專為軸向/徑向引線式器件阻抗測(cè)量而設(shè)計(jì)。 16047D 可在更高頻率(40MHz)上使用。
HP16047C夾具適用于:4192A、4194A(阻抗模式)、4263A、4263B、4268A、4278A、4279A、4284A、4285A、4288A、...
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