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閱讀:14發(fā)布時(shí)間:2025-7-19
X熒光光譜分析儀還可以對(duì)礦場(chǎng)描繪以及品位控制。通過(guò)實(shí)時(shí)就地分析多個(gè)樣本,實(shí)現(xiàn)對(duì)開(kāi)采計(jì)劃進(jìn)行指導(dǎo),有效地管理挖掘、爆破工作,在現(xiàn)場(chǎng)確定土壤、沉積物或者鉆孔樣本的地質(zhì)成分,以有效控制勘探成本。它也能夠?qū)ΦV石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類(lèi)似的樣品進(jìn)行*的金屬元素含量分析。無(wú)論是進(jìn)行原地檢測(cè)還是非原地檢測(cè),功能*的計(jì)算軟件能夠自動(dòng)消除由于不同樣品的材質(zhì)差異所造成的偏差,從而使操作者僅需將儀器探測(cè)頭直接接近樣品便可進(jìn)行檢測(cè),而其他任何數(shù)據(jù)輸入或者進(jìn)行再次校準(zhǔn)。根據(jù)對(duì)檢測(cè)精度的不同要求,測(cè)試時(shí)間僅需數(shù)秒到數(shù)分鐘。

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