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一、Keithley 6430 亞fA程控源表產(chǎn)品介紹：

6430亞fA程控源表集合了吉時利源表和源測量單元（SMU）產(chǎn)品的電壓源和電流源及測量功能，比靜電計靈敏度更高，噪聲更低，輸入阻抗更高。這種*的性能是通過6430遠端前置放大器實現(xiàn)的，它提供非常靈敏的雙向放大器，用于測量或產(chǎn) 生被測試器件的電流。遠端前置放大器輸出的高電平信號通過一條2米長的線纜發(fā) 送到控制主機上。這使得用戶可以直接，或者近距離連接該信號，減少線纜噪聲的影響。

二、主要特點:
0.4fA p-p (4E-16A)噪聲
遠端前置放大器可以位于信號源處以減少線纜噪聲
電壓測量的輸入阻抗>1016Ω
高速——達2000讀數(shù)/秒
分辨率達6位半
快速元件特性分析，帶可編程數(shù)字I/O和接口
6430按照靜電計無法達到的速度測量電壓、電流與電阻。它可以每秒讀取最多 2000源/測量讀數(shù)，讀入內(nèi)部存儲器中。可以測量快速小電流，100nA量程可響應短至5ms的信號，較大量程可響應幾百微秒的信號。
6430的*特點包括其優(yōu)秀的低電流靈敏度和遠端前置放大器，這通過避免長輸入線纜發(fā)揮了靈敏度的作用。遠端前置放大器是6430反饋測量系統(tǒng)的主要部分，雖然通過長達2米，帶載高電平信號的連接線纜它能離開主機一段距離但是它不能獨立于測量主機工作。
三、應用
6430的功能使其同樣適于在測試實驗室的研究工作和復雜元件的評估，結合其它源測量儀器或SMU用于在較高電平上進行低電流、高電阻或高靈敏度的半導體測量。6430的低噪聲和漂移性能也非常適合高阻性納米線和其它高阻納米材料的研究。
高速數(shù)據(jù)處理

6430能以超過2000個讀數(shù)/秒的速度讀至其內(nèi)存緩沖器。IEEE-488總線輸出能每秒發(fā)送達75個源/測量讀數(shù)至外部計算機控制器，包括通過/失效指示。

6430能提供達2.2W的4象限源，以及低至亞fA和微伏電平的測量靈敏度。在高達20V，它能測量從 1pA量程（僅0.4fA峰峰值噪聲）至 100mA量程的電流?？商峁?00mV至 200V的電壓范圍。電流和電壓量程設置定義了源或阱電壓或電流的值。
典型應用：
半導體測量
基于FET元件中的柵極漏電或溝道漏電會在 MOSFET、FET、模擬開關和許多其它電路中產(chǎn)生誤差。通過允許研究人員測量極低電平的電流和電壓，6430能幫助他們了解這些元件的設計局限以及研究替代器件的結構或材料。
SET研究
6430具有的優(yōu)秀低電流測量能力（<0.4fA峰峰值）使其對于單電子晶體管（SET）和量子點研究非常有用。使用類似于鎖定的技術，6430能以1aA靈敏度測量電流（10–18A=6電子/秒）。
測量行業(yè)的噪聲和漂移
下圖的數(shù)據(jù)表明6430在5小時期間內(nèi)穩(wěn)定性非常突出，而且短期的低噪聲性能優(yōu)秀。使用6430的AUTOFILTER以5秒上升時間在1pA量程上實現(xiàn)微弱信號采集。插圖中的細節(jié)是濾波信號的截圖，顯示了6430型在最開始的100秒期間的低噪聲性能（僅200aA峰峰值）。在溫度變化約1°C的實驗室環(huán)境下提取數(shù)據(jù)，其中6430的IN/ OUT HI和SENSE引線接防護罩。