WK4100系列 LCR表產品參數(shù)：

1J4110    頻率范圍20Hz~100kHz
1J4120    頻率范圍20Hz~200kHz
1J4150    頻率范圍20Hz~500kHz
1J41100  頻率范圍20Hz~1MHz

? 測試頻率：20Hz—1MHz

? 基本精度：0.1%

? 測試速度：<20ms

? 提供B1、B2、S1和S2測包訊號，可連接各家封裝測試機

? 測試參數(shù)：阻抗(Z),  相位角(θ)、交流電阻（Rac）、電容(C),  損耗因數(shù)(D),電感(L), 品質因數(shù)(Q),電納(B),  電導(G), 電抗(X), 導納(Y)和直流電阻（Rdc）

 ? 交流信號源：10mV—2Vrms

? 通信接口：GPIB、RS232、LAN和USB

? 直流疊加：內置+2V，外加0—±40V

? 具有帶電電容器放電保護電路

? 體積小、重量輕、性價比更高的元器件測試儀器

WK4100系列 LCR表適用范圍：

0.1% 基本精確度,266PCS/分產量~540PCS/分

雙頻測試,四項參數(shù)顯示

4110頻率范圍20Hz~100kHz

4120頻率范圍20Hz~200kHz

4150頻率范圍20Hz~500kHz

41100頻率范圍20Hz~1MHz

GPIB USB,LAN,RS232界面與操作軟件

測試參數(shù):Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc