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當前位置：西安安泰測試設備有限公司>>元器件測試儀>>探針臺>> CGO-2/CGO-4/CGO-6高低溫真空探針臺系列

高低溫真空探針臺系列

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具體成交價以合同協議為準

產品型號CGO-2/CGO-4/CGO-6

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更新時間：2022-06-07 10:59:14瀏覽次數：270次

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CGO-4高低溫真空探針臺產品介紹：溫度范圍77K-675K

CGO-4高低溫真空探針臺產品介紹：
溫度范圍77K-675K；
可應用于真空及常規(guī)環(huán)境；
超高溫度分辨率；
特殊客制低溫系統；
具有*穩(wěn)定性

特點/應用
◆ 2至6英寸樣品臺
◆ 高真空腔體
◆ 防輻射屏設計，樣品溫度均勻性更好
◆ 77K-675K高低溫環(huán)境
◆ 兼容IV/CV/RF測試
◆ 外置多探針臂，移動行程大
◆ 經濟實用，可無縫升級

極低溫測試:
    因為晶圓在低溫大氣環(huán)境測試時，空氣中的水汽會凝結在晶圓上，會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。
高溫無氧化測試：
 
    當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時，氧化現象會越來越明顯，并且溫度越高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差，物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。
    晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因為熱脹冷縮現象，定位好的探針與器件電極間會有相對位移，這時需要針座的重新定位，針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調整探針的位置。



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