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更新時(shí)間：2022-03-09 14:34:31瀏覽次數(shù)：281次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)日立分析儀器擁有一系列應(yīng)用于金屬表面厚度檢測(cè)的涂鍍層測(cè)厚儀，既能檢測(cè)鐵基材料也能檢測(cè)非鐵基材料
日立分析儀器擁有一系列應(yīng)用于金屬表面厚度檢測(cè)的涂鍍層測(cè)厚儀，既能檢測(cè)鐵基材料也能檢測(cè)非鐵基材料。
日立分析儀器鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光技術(shù)所開發(fā)，可快速提供單層或多層分析，對(duì)合金成分進(jìn)行定量分析，優(yōu)化電鍍液控制的金屬離子含量分析。
鍍層測(cè)厚儀的典型應(yīng)用包括汽車制造、油漆和粉末涂料制造、電鍍廠與PCB面銅管銅測(cè)厚。
對(duì)于金屬鍍層測(cè)厚的解決方案、相關(guān)配件及耗材現(xiàn)都可在網(wǎng)絡(luò)上快速獲取范圍的售前售后服務(wù)與技術(shù)支持。
日立分析儀器鍍層測(cè)厚儀不僅僅有臺(tái)式X熒光光譜儀Eco系列、MAXXI系列、X-Strata920，還有方便易用的便攜式CMI系列鍍層測(cè)厚儀。
日立分析儀器鍍層測(cè)厚儀功能*、性能可靠且操作簡(jiǎn)單，基于能量色散型X射線熒光光譜（XRF）所開發(fā)，可確保品質(zhì)的同時(shí)降低成本。
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