詳細(xì)摘要： 智能卡扭曲試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，柔性電子標(biāo)簽等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào)：MX(IC)所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言江蘇摩信工業(yè)系統(tǒng)有限公司
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江蘇摩信工業(yè)系統(tǒng)有限公司
詳細(xì)摘要： 智能卡扭曲試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，柔性電子標(biāo)簽等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào)：MX(IC)所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 識(shí)別卡動(dòng)態(tài)彎曲扭轉(zhuǎn)循環(huán)試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 電子IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： IC卡彎曲循環(huán)測(cè)試儀本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...
產(chǎn)品型號(hào)：MX（IC）所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： IC卡彎扭疲勞試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...
產(chǎn)品型號(hào)：MX（IC）所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 智能卡彎曲扭曲測(cè)試機(jī)用于用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào)：MX（IC）所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 液晶數(shù)顯IC卡彎扭試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 芯片卡滾壓實(shí)驗(yàn)機(jī)根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三...
產(chǎn)品型號(hào)：MX-SL所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-26 在線留言
詳細(xì)摘要： IC卡滾壓測(cè)試儀價(jià)格根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片...
產(chǎn)品型號(hào)：MX-SL所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三個(gè)鋼制...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-26 在線留言
詳細(xì)摘要： IC卡滾壓測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三...
產(chǎn)品型號(hào)：MX-SL所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 三輪滾壓測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三個(gè)...
產(chǎn)品型號(hào)：MX-SL所在地：南通市更新時(shí)間：2025-06-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 卡片滾壓儀器根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試，將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三個(gè)鋼...
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