IEC60068-2-1：2007是國際電工委員會(huì)（International Electrotechnical Commission）制定的一項(xiàng)電子產(chǎn)品可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)，主要用于評估產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能和可靠性。昊極科技的超低溫試驗(yàn)箱采用的溫控技術(shù)和精確的環(huán)境模擬系統(tǒng)，能夠精準(zhǔn)模擬出低溫環(huán)境。滿足IEC60068-2-1：2007測試標(biāo)準(zhǔn)的要求。

IEC60068-2-1：2007測試標(biāo)準(zhǔn)概述

IEC60068-2-1：2007是國際電工委員會(huì)制定的一項(xiàng)電子產(chǎn)品可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)，其中詳細(xì)描述了低溫環(huán)境試驗(yàn)的條件、方法和步驟，為產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能評估提供了指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于所有需要進(jìn)行低溫環(huán)境試驗(yàn)的電工電子產(chǎn)品，旨在確保產(chǎn)品在各種低溫條件下仍能穩(wěn)定運(yùn)行。

IEC60068-2-1：2007的試驗(yàn)條件

溫度：溫度范圍可以正負(fù)偏差3度，常見的測試溫度包括-65℃、-55℃、-40℃、-25℃、-10℃、-5℃、+5℃等。

駐留時(shí)間：試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間一般有2h、16h、72h、96h，或根據(jù)產(chǎn)品自身的使用環(huán)境選擇試驗(yàn)時(shí)間。若試驗(yàn)?zāi)康膬H僅是檢查試驗(yàn)樣品在低溫時(shí)是否正常工作，則試驗(yàn)的時(shí)間只限于使樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定。

溫變率：每分鐘不超過1℃（5分鐘內(nèi)之平均值）。

試驗(yàn)容差：±3℃。

試驗(yàn)柜內(nèi)壁上各點(diǎn)之溫度值：須在試驗(yàn)溫度（以oK表示）之±8%以內(nèi)，以避免熱輻射問題。

昊極科技超低試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)

系統(tǒng)：平衡溫度控制(BTC)系統(tǒng)

溫度范圍：-85℃~+180℃

溫度波動(dòng)：±0.5℃

溫度均勻度：2.0℃

溫度變化率：升溫速率:5.0℃/min 降溫速率:2.0℃/min

升溫時(shí)間:從+20℃到+10℃  20分鐘

降溫時(shí)間:+20℃至-85℃  90分鐘

昊極科技的超低溫試驗(yàn)箱高精度的溫度控制系統(tǒng)確保了試驗(yàn)箱內(nèi)溫度的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性，符合IEC60068-2-1：2007標(biāo)準(zhǔn)對溫度控制精度的要求。同時(shí)，該試驗(yàn)箱通過優(yōu)化設(shè)計(jì)和的溫控技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了試驗(yàn)箱內(nèi)溫度的均勻分布，進(jìn)一步提高了測試的準(zhǔn)確性和可靠性。在試驗(yàn)過程中，試驗(yàn)箱能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測和記錄溫度數(shù)據(jù)，保證了試驗(yàn)的準(zhǔn)確性和可追溯性。

昊極科技的超低溫試驗(yàn)箱作為滿足IEC60068-2-1：2007測試標(biāo)準(zhǔn)的重要設(shè)備，在電子產(chǎn)品可靠性測試中發(fā)揮著重要作用。通過使用該設(shè)備，為評估電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能和可靠性提供了有力支持。