電子設(shè)備老化測試是一種環(huán)境應(yīng)力測試，通常使用電壓和/或溫度來加速電子元器件中潛在可靠性缺陷的出現(xiàn)。在電子設(shè)備老化測試中我們應(yīng)用到的設(shè)備是昊極科技研發(fā)生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗箱、高低溫試驗箱以及HAST高壓加速老化試驗箱，老化測試的目的是消除產(chǎn)品生命周期早期可能發(fā)生的所有潛在故障。

老化是關(guān)鍵的篩選步驟，通常應(yīng)用于批次中99%的組件。

根據(jù)要激活的故障機制，為每個產(chǎn)品系列定義了一組不同的測試方法和要求。其中許多機制依賴于產(chǎn)品技術(shù)。例如：HTRB程序（高溫反向偏置）篩選設(shè)備鈍化層內(nèi)部和外部的移動或溫度激活雜質(zhì)；或SSOP（穩(wěn)態(tài)工作功率）。

電子設(shè)備老化測試按照相應(yīng)的測試方法進行，例如：

MIL-STD-883 TM 1015、1016 用于集成電路

MIL-STD-750 TM 1038、1039、1040、1042 用于離散產(chǎn)品

MIL-STD-202 TM 108 用于電子和電氣零件

JEP163

昊極科技研發(fā)生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗箱、恒溫恒濕試驗箱以及HAST高壓加速老化試驗箱適用以上測試標(biāo)準(zhǔn)。

冷熱沖擊試驗箱是 IC 芯片和小型電子產(chǎn)品測試的理想選擇。設(shè)計由兩個獨立控制的內(nèi)箱構(gòu)成。一個內(nèi)箱是高溫的，另一個是低溫的。產(chǎn)品在高溫和低溫箱之間快速轉(zhuǎn)移，從而對樣品產(chǎn)生溫度沖擊,以幫助發(fā)現(xiàn)電子元件和產(chǎn)品組裝中的產(chǎn)品缺陷。

昊極科技恒溫恒濕試驗箱提供多種預(yù)制和定制尺寸，以滿足您的確切測試要求。可用型號包括各種溫度斜坡率、濕度水平以及許多標(biāo)準(zhǔn)和可選功能，包括溫度循環(huán)、穩(wěn)態(tài)測試和快速變化率。

昊極科技HAST高壓加速老化試驗箱廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進行測試。

在老化測試期間，電子組件承受或高于額定工作條件的應(yīng)力以及其質(zhì)量等級指定的溫度。加速因子是通過使用可靠性模型作為溫度的影響、測試的持續(xù)時間和每個特定故障模式的活化能 (Ea) 確定的。

有關(guān)電子設(shè)備老化測試解決方案，請隨時聯(lián)系昊極科技的專家，討論您的產(chǎn)品的場景。

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