半導(dǎo)體老化是一種檢測半導(dǎo)體器件早期故障的方法。它要求在一組應(yīng)力條件下對器件進(jìn)行測試，這些條件通常涉及125°C到150°C的高溫（通常，一些“高可靠性”器件可以在200°C或更高溫度下進(jìn)行測試），持續(xù)時間單位為小時。昊極科技定制半導(dǎo)體老化測試試驗箱。

在此期間，設(shè)備的電源輸入端被施加了一個偏置電壓。如果沒有施加額外的刺激，則稱為靜態(tài)老化。如果使用數(shù)字或模擬輸入刺激設(shè)備，則必須監(jiān)控設(shè)備以了解設(shè)備何時以及是否發(fā)生故障。這稱為監(jiān)控或動態(tài)老化。溫度、時間長度和其他條件通常由一組標(biāo)準(zhǔn)控制，或與設(shè)備的最終用戶達(dá)成一致。

老化測試試圖從電子產(chǎn)品可靠性的曲線圖的第1階段清除故障，這給出了電子元件的故障率與時間圖。

這條曲線分為三個階段：

第 1 階段：早期階段-這是一個組件出現(xiàn)早期故障的時期。這是由于在分子水平上缺乏對制造過程的控制。在此期間，組件的故障率很高，但該率會隨著時間的推移而降低。 （藍(lán)色曲線顯示由于早期故障導(dǎo)致的故障率）

第 2 階段：正常使用壽命-這是故障率幾乎恒定的時期，并且由于隨機(jī)發(fā)生的故障。（以綠色曲線顯示）

第 3 階段：磨損壽命終止-以部件老化導(dǎo)致故障率增加為標(biāo)志的時期；這一時期標(biāo)志著設(shè)備使用壽命的結(jié)束。這些故障是由于設(shè)備中的關(guān)鍵路徑磨損所致。（紅色曲線顯示由于老化導(dǎo)致的故障率）。

為了執(zhí)行此測試，設(shè)備被加載到專門制造的老化板上的插座中。這些插槽可以手動加載，也可以使用自動加載器（例如來自昊極科技定制的自動加載器系列的產(chǎn)品）加載。

可能老化的QFN封裝器件示例，半導(dǎo)體器件測試用開頂老化插座

一旦待測設(shè)備 (昊極科技定制半導(dǎo)體老化可靠性試驗箱) 被加載到老化板上的插座中，該板就會被放入專門用于這些板和應(yīng)用的老化系統(tǒng)中。半導(dǎo)體的老化系統(tǒng)有很多種。昊極科技制造各種系統(tǒng)以適應(yīng)從4針到1,000多針的設(shè)備。對于功耗低于1W到超過100W的設(shè)備。特定系統(tǒng)還將具有許多電源，以提供現(xiàn)代設(shè)備上使用的各種電壓。這些范圍可以從幾毫伏到超過100V，從幾毫瓦到超過500A。

除了電源之外，昊極科技的半導(dǎo)體測試試驗箱老化系統(tǒng)還能夠提供多個I/O，在老化過程中對DUT進(jìn)行激勵、測量和監(jiān)控。昊極科技的工程師可以與您一起確定您的設(shè)備所需的正確系統(tǒng)、電路板和編程。

昊極科技科定制用于復(fù)雜、低、中、高功率設(shè)備的可靠性老化測試試驗箱。

一旦電路板被加載到老化系統(tǒng)中，特定的測試程序就會在這些電路板和設(shè)備上運(yùn)行，以對這些電路板和設(shè)備進(jìn)行壓力、測試和評估，以滿足指定的要求。這將包括溫度（測試區(qū)域溫度、DUT封裝溫度或器件表面溫度）、電壓、用于激勵器件的數(shù)字模式以及用于監(jiān)控通過/失敗條件的參數(shù)等因素。

測試完成后，會生成每個設(shè)備的測試數(shù)據(jù)記錄，以便在老化后進(jìn)行排序?qū)Ρ取?/span>

除了傳統(tǒng)的半導(dǎo)體老化試驗箱外，另一個常見的半導(dǎo)體可靠性測試是HAST老化試驗箱。有關(guān)HAST的更多信息，請參閱我們的HAST老化試驗箱產(chǎn)品介紹。

昊極科技在解決半導(dǎo)體行業(yè)復(fù)雜的老化和可靠性測試方面擁有20多年的經(jīng)驗。

有關(guān)老化應(yīng)用測試以及昊極科技如何幫助您和您的團(tuán)隊實現(xiàn)目標(biāo)的更多信息，請聯(lián)系我們，我們將很樂意為您提供更多的老化測試解決方案。

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