在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，晶圓清洗環(huán)節(jié)是決定芯片良率的關(guān)鍵步驟之一。某集成電路生產(chǎn)企業(yè)在引線框架及單晶硅切割工藝中，對清洗用超純水的顆粒度控制極為嚴(yán)格。傳統(tǒng)檢測方式多依賴人工取樣后送實(shí)驗(yàn)室分析，周期長、數(shù)據(jù)滯后，難以滿足產(chǎn)線實(shí)時(shí)管控需求。該企業(yè)引入普洛帝UP-200超純水液體粒子計(jì)數(shù)器后，利用第八代雙激光窄光顆粒檢測傳感器，在產(chǎn)線旁實(shí)現(xiàn)了清洗液的在線顆粒監(jiān)測。設(shè)備搭配精密計(jì)量柱塞泵與超精密流量電磁控制系統(tǒng)，采樣流量穩(wěn)定，數(shù)據(jù)重復(fù)性好。經(jīng)過三個(gè)月的運(yùn)行，清洗液顆粒超標(biāo)事件的響應(yīng)時(shí)間從原來的數(shù)小時(shí)縮短至分鐘級別，產(chǎn)品潔凈度指標(biāo)得到明顯改善。

除半導(dǎo)體場景外，UP-200同樣適用于高壓變電器清洗用水的離線檢測。某電力設(shè)備制造廠在變電器出廠前，需對內(nèi)部絕緣件進(jìn)行高壓沖洗，沖洗用水的顆粒度直接影響絕緣性能。技術(shù)人員使用UP-200對清洗用水進(jìn)行離線采樣分析，設(shè)定0.3μm及以上粒徑通道進(jìn)行計(jì)數(shù)，檢測報(bào)告可直接作為出廠質(zhì)檢的依據(jù)。該案例體現(xiàn)了UP-200從水質(zhì)檢測到工業(yè)清洗用水分析的跨場景適配能力。

在液晶顯示器及導(dǎo)電玻璃生產(chǎn)企業(yè)中，UP-200被用于工藝用水的日常抽檢。平板玻璃生產(chǎn)線對沖洗水中的微納米顆粒同樣敏感，設(shè)備的雙激光檢測方案能夠覆蓋從亞微米到數(shù)十微米的粒徑范圍，滿足不同產(chǎn)品線的檢測需求。