粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據(jù)測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學(xué)顆粒計數(shù)器、電阻式顆粒計數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。
粒度儀的注意事項
(1)分離顆粒的能力與粒度測試技術(shù)選擇
依據(jù)對顆粒的分離能力。將測量顆粒的技術(shù)分為單顆粒計數(shù)、顆粒分級和整體平均結(jié)果三類。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術(shù)方法；分級方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等；整體平均的粒度分析方法，從收集到的所有測量顆粒產(chǎn)生信號的總和計算粒度分析，即測量結(jié)果由解析得到，是被測顆粒整體的平均，因此易于實現(xiàn)自動化和在線分析，但分辨率較低。用于催化劑工業(yè)生產(chǎn)的顆粒分析儀選擇整體平均的方法，實驗室研究多數(shù)情況希望獲得單顆粒技術(shù)與外貌信息，分級方法的選擇，應(yīng)當(dāng)結(jié)合測量顆粒性質(zhì)與測量方式考慮。
(2)信息與技術(shù)指標(biāo)要求
信息要求.是指給出結(jié)果的表達方式.可以是平均粒徑、累加頻率值、正態(tài)分布、分布寬度.也可用對數(shù)正態(tài)分布、非對稱分布寬度、多峰分布的各峰相對量，以及累加頻率的不同名義(如顆粒數(shù)、體積、面積等)表達。催化劑粒度分析zui有用的信息是平均粒徑和粒徑的顆粒數(shù)分布。
(3)測量基準(zhǔn)
不同粒度儀技術(shù)的原理不同，原信息源和計量目標(biāo)不同。例如光衍射法的原信息源是散射光強度，要求防止細顆粒中少數(shù)大顆粒對信息源的支配.電敏技術(shù)則按顆體積計數(shù)，因此各方法的基準(zhǔn)不同，彼此不能簡單歸一同比。所以必須強調(diào)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化因基準(zhǔn)不同會帶來明顯的誤差。
(4)不同粒度儀技術(shù)的局限性
不同粒度分析技術(shù)都受其測量原理限制.如光衍射法不能測量小于光源自然線寬的顆粒；沉降法則既受制于大尺寸端亂流的影響，又受小尺寸端擴散(布朗運動)的限制。一些測量儀器也會因制作和操作規(guī)程帶來一定限制。有時測量技術(shù)還對測量樣品的準(zhǔn)備提出限制，PCS測量必須使顆粒懸浮，電鏡制樣要求優(yōu)良分散。因此，了解測量技術(shù)的局限性和嚴(yán)格滿足其限制要求.對獲取正確測量結(jié)果非常必要。
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