電子分析天平在安裝、移動位置、實驗室溫度明顯變化等，進行校準，以保證電子天平適應本地的重力加速度和環(huán)境，校準電子天平就會用到標準砝碼。很多客戶會問到電子天平內(nèi)校和外校的區(qū)別，下面簡單介紹。

內(nèi)校型號的電子分析天平是指校準砝碼在電子天平內(nèi)部，用電機驅(qū)動有內(nèi)置砝碼升降裝置的電子分析天平，校準時只要按一下校準鍵就可以完成校準過程。

外校型號的電子分析天平是指通過手動，校準時先按校準鍵，再把標準砝碼放到電子分析天平秤盤上，來完成校準過程。砝碼用單獨的砝碼盒保存。

電子分析天平的準確性與內(nèi)校和外校無關，主要看砝碼的等級和電子天平傳感器質(zhì)量，一般新出廠的分析天平所帶的外帶砝碼和內(nèi)置砝碼等級是相同的，所以沒有區(qū)別，但隨著使用時間的推移,外帶砝碼的損耗一般比內(nèi)置砝碼要大：會受到灰塵、酸堿腐蝕等等影響，一個手指印就會有幾十微克重，如果保管不當還有丟失的情況存在。所以每年的計量檢驗不合格的話，就需要更換砝碼。

內(nèi)置砝碼的分析天平一般不會出現(xiàn)上述情況，并可以通過修改天平的校正程序參數(shù)來修正偏差、雖然內(nèi)校天平比外校價格貴一些，但其使用方便,所以在使用中有明顯優(yōu)勢。

所以內(nèi)校和外校準確度沒有太大的區(qū)別，用戶可以根據(jù)預算選擇性購買。