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非接觸測(cè)量的三種主流原理:白光干涉、共聚焦與激光三角法
提起非接觸式粗糙度儀,常聽到三個(gè)技術(shù)名稱。它們測(cè)的是同一樣?xùn)|西——工件表面的高度分布——但"讀"表面的方式wan全不同,這決定了各自的適用邊界。
一、白光干涉:用相干長(zhǎng)度當(dāng)高度尺
白光(寬光譜光)的相干長(zhǎng)度很短,通常只有幾微米。把一束光分為兩路,一路照樣品、一路照參考鏡,再讓它們匯合:只有在兩路光程接近相等的位置,才會(huì)出現(xiàn)對(duì)比度高的干涉條紋;偏離這個(gè)位置,條紋迅速變模糊。
系統(tǒng)沿高度方向逐層掃描,記錄每個(gè)像素點(diǎn)上條紋對(duì)比度達(dá)到峰值時(shí)對(duì)應(yīng)的位置,該位置就是這一點(diǎn)的高度。全部像素并行處理,一次掃描得到一個(gè)完整的三維高度圖。
它的垂直分辨能力可達(dá)亞納米量級(jí),視場(chǎng)內(nèi)的數(shù)據(jù)整體獲取,過(guò)程較快。適合表面起伏較小、反射特性較一致的樣品,例如晶圓、光學(xué)鏡片、研磨面與薄膜臺(tái)階。局限在于視場(chǎng)受物鏡限制,測(cè)大件需拼接;表面過(guò)陡時(shí)條紋會(huì)失去相關(guān)性。
二、共聚焦:用針孔篩掉焦外的光
共聚焦的思路是"只讓焦平面上的光通過(guò)"。光經(jīng)物鏡聚焦到樣品,反射光返回時(shí)要穿過(guò)一個(gè)小孔。焦平面上的光能順利通過(guò),焦外的散光被擋掉。物鏡沿高度逐層移動(dòng),每一層只有處于焦點(diǎn)位置的像素有效,逐層疊加即得到三維形貌。
它對(duì)陡壁、微結(jié)構(gòu)和起伏較大的表面適應(yīng)性更強(qiáng),不受"表面必須足夠光滑"的約束,橫向分辨能力也較好。代價(jià)是全視場(chǎng)采集需要逐層掃描,耗時(shí)比白光干涉長(zhǎng)。光譜共聚焦是它的變體:用色散把不同波長(zhǎng)的光聚焦在高度不同的位置,一次成像即可讀取高度,速度更快、量程更大,垂直分辨能力則相應(yīng)讓出一步。
三、激光三角法:用幾何關(guān)系直接換算高度
激光束斜射到表面形成光斑,反射光由偏離入射方向的探測(cè)器接收。表面高度變化時(shí),光斑在探測(cè)器上的位置隨之移動(dòng),依據(jù)夾角與基線長(zhǎng)度的幾何關(guān)系即可算出高度。
它結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔、成本可控、采集速度快,適合節(jié)拍要求高的在線場(chǎng)景,如產(chǎn)線上的表面狀態(tài)監(jiān)控。代價(jià)是垂直分辨能力通常在微米量級(jí),且受表面顏色、反射率和傾斜角度影響明顯,暗表面與斜面容易丟信號(hào)。它更適合判斷"有沒(méi)有異常",不擅長(zhǎng)評(píng)價(jià)納米級(jí)形貌。
四、 三條路怎么選
|
白光干涉 |
共聚焦 |
激光三角法 |
垂直分辨能力 | 亞納米量級(jí) | 納米級(jí) | 微米量級(jí) |
橫向分辨能力 | 受物鏡限制 | 較好 | 微米量級(jí) |
采集方式 | 一次掃描得面數(shù)據(jù) | 逐層掃描 | 單點(diǎn)或線掃 |
對(duì)表面要求 | 較光滑、反射一致 | 可含陡壁與微結(jié)構(gòu) | 受顏色與傾角影響 |
適用定位 | 納米級(jí)形貌評(píng)價(jià) | 微結(jié)構(gòu)形貌分析 | 高節(jié)拍在線監(jiān)控 |
以納米級(jí)起伏評(píng)價(jià)為主、表面較光滑 → 白光干涉;
樣品含微結(jié)構(gòu)、陡壁、起伏較大 → 共聚焦;
節(jié)拍是硬約束、精度要求相對(duì)寬松 → 激光三角法。
這四項(xiàng)指標(biāo)——垂直分辨能力、橫向分辨能力、視場(chǎng)范圍、測(cè)量節(jié)拍——構(gòu)成一組此消彼長(zhǎng)的關(guān)系,其中一項(xiàng)提升,往往要另一項(xiàng)讓步。所以選型的起點(diǎn)不是比較哪種技術(shù)更優(yōu),而是把需求排序:真正在意的是什么,可以接受在哪兒妥協(xié)。
蘇州恒商工業(yè)設(shè)備有限公司的納米形貌測(cè)量?jī)x采用非接觸光學(xué)測(cè)量方案,配套軟件為自主研發(fā),支持按客戶執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)調(diào)整濾波方式與參數(shù)定義。手上有樣品不確定走哪條路,可以寄件實(shí)測(cè),用數(shù)據(jù)來(lái)判斷。
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